测试装置及其设置方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200480007212.7
IPC分类号：G01R31/3183
申请日期：
2004-03-16
申请人：
爱德万测试株式会社

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著录项信息

专利名称	测试装置及其设置方法
申请号	CN200480007212.7	申请日期	2004-03-16
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2006-04-19	公开/公告号	CN1761885
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/3183 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/28 电路的测试，例如用信号故障寻测器（在准备运算或空闲时间期间内测试计算机入G06F11/22） G01R31/317 数字电路的测试〔6〕 G01R31/3181 性能测试（G01R 31/3177优先）〔6〕 G01R31/3183 测试输入量的产生，例如测量矢量、图形或顺序〔6〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;3;1;8;3查看分类表>
申请人	爱德万测试株式会社	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	爱德万测试株式会社	当前权利人	爱德万测试株式会社
发明人	矢口刚史
代理机构	北京中原华和知识产权代理有限责任公司	代理人	寿宁

摘要

一种测试电气元件的测试装置，包括：多个信号输入-输出单元，其响应该电气元件中所包括的多个端子的每一个来输入和/或输出测试信号；一个通道选择存储器，其存储指示每个信号输入-输出单元是否应当根据设置条件执行设置的多条通道选择信息；一个设置条件存储器，其存储关于信号输入-输出单元的设置条件；以及一个控制构件；当接收到设置指令以设置信号输入-输出单元的设置条件时；其根据设置指令检索并向信号输入-输出单元提供存储在设置条件存储器中的设置条件以及存储在通道选择存储器中的通道选择信息，其中当至少一个信号输入-输出单元被从控制构件提供的通道选择信息选中时，则根据从控制构件提供的设置条件设置此一信号输入-输出单元。

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