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基于单色X射线衍射的标定装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201910884267.4
IPC分类号：G01N23/2005
申请日期：
2019-09-19
申请人：
西安交通大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于单色X射线衍射的标定装置
申请号	CN201910884267.4	申请日期	2019-09-19
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2019-12-20	公开/公告号	CN110596162A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/2005 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/14 （转入G01N 23/083-G01N 23/087， G01N 23/12） G01N23/20 利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射〔1，2006.01，2018.01〕 G01N23/20008 分析仪零件结构，例如其特征在于X射线源、检测器或光学系统；其配件；样品制备（使用晶体的X射线单色仪G21K 1/06）〔2018.01〕 G01N23/2005 粉末状样品制备〔2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;0;0;5查看分类表>
申请人	西安交通大学	申请人地址	陕西省西安市咸宁西路28号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安交通大学	当前权利人	西安交通大学
发明人	陈凯;朱文欣;寇嘉伟;沈昊
代理机构	北京中济纬天专利代理有限公司	代理人	暂无

摘要

本发明公开了一种基于单色X射线衍射的单晶/定向晶标定装置，其中，基材包括上表面和下表面；黏结层配置成将标定装置固定到X射线衍射的样品表面上，所述黏结层设在所述下表面；多晶粉末层设在所述上表面，所述多晶粉末层的厚度小于X射线对多晶粉末的穿透深度的五分之一使得来自样品表面的第一衍射信号和来自多晶粉末的第二衍射信号同时被采集。

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