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芯片测试治具

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202022195741.3
  • IPC分类号:F26B21/00
  • 申请日期:
    2020-09-30
  • 申请人:
    苏州市大华精密机械有限公司
著录项信息
专利名称芯片测试治具
申请号CN202022195741.3申请日期2020-09-30
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号F26B21/00IPC分类号F;2;6;B;2;1;/;0;0查看分类表>
申请人苏州市大华精密机械有限公司申请人地址
江苏省苏州市相城区太平工业园金瑞路9号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人苏州市大华精密机械有限公司当前权利人苏州市大华精密机械有限公司
发明人顾明华
代理机构苏州曼博专利代理事务所(普通合伙)代理人宋俊华
摘要
本实用新型公开了一种芯片测试治具,包括壳体,所述壳体的内腔设置有底板,所述底板的顶部固定安装有治具本体,所述壳体的顶部铰接有盖门,所述盖门的顶部固定安装有矩形箱,所述矩形箱的内腔固定安装有横板,所述横板顶部的右侧固定安装有风机。本实用新型通过壳体、底板、治具本体、盖门、矩形箱、横板、风机、电热箱、加热丝、输气管、除湿箱、L形管、竖管和风扇的设置,使芯片测试治具,达到了除湿的目的,同时解决了现有的芯片测试治具没有对其除水分的装置,芯片测试治具由许多精密零件构成,放置太久容易因为潮湿而发生损坏,一旦损坏不仅需要维修,也会影响芯片测试的问题。

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