用于校准测量装置的校准量规以及校准测量装置的方法

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专利名称	用于校准测量装置的校准量规以及校准测量装置的方法
申请号	CN02151590.5	申请日期	2002-12-11
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2003-06-18	公开/公告号	CN1424634
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	布朗和沙普·特萨有限公司	申请人地址	瑞士雷伦斯变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	特莎有限公司	当前权利人	特莎有限公司
发明人	P·乔尔迪尔;A·扎尼尔;C·－H·祖菲里
代理机构	中国专利代理（香港）有限公司	代理人	黄力行

摘要

用于校准测量装置的校准量规，它的校准尺度可通过它的内尺寸进行测量，也可通过外尺寸进行测量，因此可使该校准尺度小于15毫米，甚至用于校准安装了探针头大于该尺寸的测量装置。依赖这样一校准量规的该校准方法在某种特定情况下包括测量一凸出量的两个外表面之间的该校准测量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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