光频域反射测定方式的物理量测量装置、及使用了其的温度和应变的同时测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN200980000285.6
IPC分类号：G01D5/353;G01B11/16;G01K11/12
申请日期：
2009-03-02
申请人：
株式会社藤仓

基础信息

权利要求

说明书

PDF全文

法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	光频域反射测定方式的物理量测量装置、及使用了其的温度和应变的同时测量方法
申请号	CN200980000285.6	申请日期	2009-03-02
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2010-03-24	公开/公告号	CN101680781
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01D5/353 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01D 非专用于特定变量的测量；不包含在其他单独小类中的测量两个或多个变量的装置；计费设备；非专用于特定变量的传输或转换装置；未列入其他类目的测量或测试 G01D5/00 用于传递传感构件的输出的机械装置；将传感构件的输出变换成不同变量的装置，其中传感构件的形式和特性不限制变换装置；非专用于特定变量的变换器（G01D 3/00优先；专门适用于给出除变量的瞬时值以外的结果的仪表入G01D 1/00）〔6〕 G01D5/26 采用光学装置，即应用红外光、可见光或紫外光 G01D5/32 利用光束的减弱或者全部或局部的闭塞（G01D 5/40优先） G01D5/34 利用光电元件检测光束 G01D5/353 影响光纤的传输特性〔6〕	IPC分类号	G;0;1;D;5;/;3;5;3;;;G;0;1;B;1;1;/;1;6;;;G;0;1;K;1;1;/;1;2查看分类表>
申请人	株式会社藤仓	申请人地址	日本东京都变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	株式会社藤仓	当前权利人	株式会社藤仓
发明人	大道浩儿;坂元明;平船俊一郎
代理机构	北京集佳知识产权代理有限公司	代理人	雒运朴;李伟

摘要

本发明的光频域反射测定方式的物理量测量装置具备：射出测定光的可调谐激光器；一端与该可调谐激光器连接的第一保偏光纤；与该第一保偏光纤的另一端连接的保偏耦合器；一端与该保偏耦合器连接，另一端作为参照用反射端的第二保偏光纤；一端与所述保偏耦合器连接的第三保偏光纤；形成于该第三保偏光纤的纤芯且由光纤光栅构成的传感器；一端与所述保偏耦合器连接的第四保偏光纤；借助该第四保偏光纤与所述保偏耦合器连接，对来自所述传感器的布拉格反射光和来自所述参照用反射端的参照光进行检测的光电二极管；根据由该光电二极管检测出的所述布拉格反射光和所述参照光的合波光强度变化，检测这些布拉格反射光和参照光之间的干涉强度的调制的控制部；向所述第二保偏光纤的正交的两个偏振轴及所述第三保偏光纤的正交的两个偏振轴双方，入射所述测定光的入射部；和配置于所述第三保偏光纤，使来自所述传感器中的正交的两个偏振轴的布拉格反射光的光路长度恒定的光路长度调整部；所述入射部被配置于所述第一保偏光纤、或所述第二保偏光纤与所述第三保偏光纤双方。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供