一种OLED器件光电特性测试系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201410007644.3
IPC分类号：G01R31/26;G01M11/02
申请日期：
2014-01-07
申请人：
华南理工大学

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种OLED器件光电特性测试系统
申请号	CN201410007644.3	申请日期	2014-01-07
法律状态	撤回	申报国家	中国
公开/公告日	2014-04-30	公开/公告号	CN103760483A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/26 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/26 单个半导体器件的测试（在制造或处理过程中的测试或测量入H01L 21/66；光伏器件的测试入H02S 50/10）〔2，2014.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;2;6;;;G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	华南理工大学	申请人地址	广东省广州市天河区五山路381号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	华南理工大学	当前权利人	华南理工大学
发明人	彭俊彪;罗建国;马雪雪;黄长煜;吴为敬;王磊
代理机构	广州市华学知识产权代理有限公司	代理人	蔡茂略

摘要

本发明公开了一种OLED器件光电特性测试系统，包括用于提供人机交互界面和发出指令的计算机；用于接受计算机发出的指令并输出交流脉冲控制信号及反馈方式控制信号并与多通道ADC、DAC1、DAC2进行通信的单片机；用于将从交流驱动电路采集到的模拟信号转换为数字信号并传送给单片机的多通道ADC；用于将单片机的控制信号转换为模拟信号并传送给OLED驱动与采集电路的DAC1、DAC2;用于接受交流脉冲控制信号和反馈方式控制信号输出测试结果的OLED驱动与采集电路；以及用于提供参考电压的电压参考源和用于校正的温度传感器。本发明的系统，电路系统结构合理、成本较低，通过恒压、恒流、恒亮这三个模式来测量OLED的光电特性，且具有测试速度快、精度高以及良好的可靠性等优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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