一种ATCA体系中的配置和测试方法及系统

1.一种高性能通讯计算架构体系中的配置和测试系统，其特征在于，包括：
JTAG桥片，位于被测试单板上，用于在测试控制单元的控制下选通所述JTAG桥片连接的JTAG器件、JTAG链、JTAG桥片、JTAG驱动中的任意一个或者多个；
测试控制单元，用于获得用于进行测试或配置的测试向量，并确定所述被测试单板位置，发送包含位于所述被测试单板上的JTAG桥片地址的测试包，判断所述被测试单板是否在位，确定所述被测试单板在位后控制JTAG桥片选通所述JTAG桥片连接的JTAG器件、JTAG链、JTAG桥片、JTAG驱动中的任意一个或者多个，从而连通到指定的JTAG器件和/或JTAG链，向所述指定的JTAG器件和/或JTAG链发送所述测试向量以进行测试或配置。
2.如权利要求1所述的高性能通讯计算架构体系中的配置和测试系统，其特征在于，所述测试控制单元为两个机框管理模块之一，所述机框管理模块包括测试控制器，所述两个机框管理模块通过主备竞争确定其一为主用机框管理模块，另一个为备用机框管理模块，所述主用机框管理模块为所述测试控制单元，所述备用机框管理模块为所述被测试单板。
3.如权利要求1所述的高性能通讯计算架构体系中的配置和测试系统，其特征在于，所述系统还包括另一个JTAG桥片，所述另一个JTAG桥片位于高级夹层子卡上，所述高级夹层子卡位于被测试单板上，通过位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片同位于被测试单板上的JTAG桥片连接，所述高级夹层子卡包括JTAG器件和/或JTAG链，所述JTAG器件和/或JTAG链同位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片连接；
位于被测试单板上的JTAG桥片进一步用于在所述测试控制单元控制下选通所述位于高级夹层子卡上的JTAG桥片；
位于高级夹层子卡上的JTAG桥片用于在所述测试控制单元控制下选通所述高级夹层子卡上的JTAG桥片连接的位于所述高级夹层子卡上的JTAG器件和/或JTAG链。
4.如权利要求3所述的高性能通讯计算架构体系中的配置和测试系统，其特征在于，所述系统还包括存储模块，所述存储模块为JTAG器件，位于所述被测试单板上，同位于被测试单板的JTAG桥片连接或位于同该JTAG桥片连接的JTAG链中，用于存储所述被测试单板的信息；
所述测试控制单元，还用于扫描位于所述被测试单板上的存储模块以获得所述被测试单板的信息；和/或，
所述系统还包括另一个存储模块，该存储模块为JTAG器件，位于所述高级夹层子卡上，同位于高级夹层子卡的JTAG桥片连接或位于同该JTAG桥片连接的JTAG链中，用于存储所述高级夹层子卡的信息；
所述测试控制单元，还用于扫描位于所述高级夹层子卡上的存储模块以获得所述高级夹层子卡的信息。
5.一种高性能通讯计算架构体系中的配置和测试方法，其特征在于，包括如下步骤，步骤1，测试控制单元获得用于进行测试或配置的测试向量；
步骤2，所述测试控制单元确定被测试单板位置，发送包含位于被测试单板上的JTAG桥片地址的测试包，判断所述被测试单板是否在位，确定所述被测试单板在位后控制位于所述被测试单板上的JTAG桥片选通所述JTAG桥片连接的JTAG器件、JTAG链、JTAG桥片、JTAG驱动中的任意一个或多个，从而连通到指定的JTAG器件和/或JTAG链，向所述指定的JTAG器件和/或JTAG链发送所述测试向量以进行测试或配置。
6.如权利要求5所述的高性能通讯计算架构体系中的配置和测试方法，其特征在于，所述步骤2前还包括：
步骤61，两个机框管理模块通过主备竞争确定其一为主用机框管理模块，另一个为备用机框管理模块，所述主用机框管理模块确定其自身为所述测试控制单元，所述备用机框管理模块确定其自身为被测试单板。
7.如权利要求6所述的高性能通讯计算架构体系中的配置和测试方法，其特征在于，所述步骤1进一步包括，所述主用机框管理模块从外部测试机获得所述测试向量，或者，获得其中存储的所述测试向量，或者，根据JTAG器件的边界扫描描述语言文件和被测试单板的网表文件生成所述测试向量。
8.如权利要求5所述的高性能通讯计算架构体系中的配置和测试方法，其特征在于，所述方法还包括；
步骤81，规划位于所述被测试单板上的JTAG桥片地址及JTAG器件位置；
步骤82，确定所述被测试单板在位后，所述测试控制单元根据所述规划控制所述JTAG桥片选通所述JTAG桥片连接的存储模块或存储模块所在的JTAG链，并扫描所述存储模块以获得其中存储的被测试单板信息。
9.如权利要求5所述的高性能通讯计算架构体系中的配置和测试方法，其特征在于，所述被测试单板插有高级夹层子卡，
所述步骤2进一步包括，所述测试控制单元控制位于被测试单板上的JTAG桥片选通到所述被测试单板上的JTAG桥片连接的位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片，再控制位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片选通到所述高级夹层子卡上的JTAG桥片连接的所述高级夹层子卡包括的指定JTAG器件或JTAG链。
10.如权利要求9所述的高性能通讯计算架构体系中的配置和测试方法，其特征在于，所述方法还包括：
步骤101，规划位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片地址及JTAG器件位置；
步骤102，所述测试控制单元发送包含位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片地址的测试包，判断所述高级夹层子卡是否在位，如果位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片回复响应，确定所述高级夹层子卡在位，否则，确定所述高级夹层子卡不在位；
步骤103，确定所述高级夹层子卡在位后，所述测试控制单元根据所述规划控制位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片选通所述高级夹层子卡上的JTAG桥片连接的存储模块或存储模块所在的JTAG链，并扫描该存储模块以获得其中存储的高级夹层子卡的信息。

一种ATCA体系中的配置和测试方法及系统\n技术领域\n[0001] 本发明涉及ATCA(Advanced Telecommunication Computing Architecture高性能通讯计算架构)领域，尤其涉及一种ATCA体系中的配置和测试方法及系统。\n背景技术\n[0002] 随着市场对无线与有线服务的需求持续成长，电信产业认识到需要跳脱专利型或部份开放型架构的桎梏，以便获得更多的选择空间。因此PICMG(PCIIndustrial Computer Manufacturers Group PCI工业计算机制造组织)提出了ATCA的开放式硬件平台的相关规范，称为PICMG 3.X规范，针对新一代网络元素提供充裕的扩充性与空间，支持多种交换协议与接口，提供一套机箱层级的管理机制，采纳业界标准的IPMI(Intelligent Platform ManagementInterface智能型平台管理接口)，能运用智能型平台将管理总线建置成放射状或总线型拓扑。\n[0003] 在ATCA架构的系统中，每个机框配备两块CMM(Chassis ManagementModule机框管理模块)，互为主备，如图1所示，每个CMM可单独管理机框内的所有单板，同时每个单板中都需要实现IPMC(Ihtelligent PlatformManagement Controller智能平台管理控制器)的功能，IPMC主要完成ATCA单板或其他机框组件上各种关键硬件资源的监视、控制及管理，包括单板或模块的有效净荷部分状态检测、单板温度及电压检测、热插拔管理、FRU信息获取、告警管理、电源管理、复位状态、传感器及事件管理、日志管理、E-Keying(电子开关)管理等，同时要要完成对AMC(Advanced Mezzanine Card高级夹层子卡)硬件地址、温度、电压、复位、热插拔和告警指示灯的管理及事件纪录，通过双冗余的IPMB(Intelligent Platform Management Bus智能平台管理总线)与CMM通信，把各种事件及信息上报给CMM并接受CMM的管理和控制。\n[0004] AMC 基 于 PCIMG 所 提 出 的 PICMG AMC.0 Rx 规 范 在 MMC(Module ManagementController模块管理控制器)的管理下具有热插拔、告警指示、电压/温度监控、有效净荷状态监控、上/下电控制、地址识别、FRU信息读取功能，MMC与IPMC之间通过IPMB-L总线相连进行通讯。\n[0005] 随着ATCA架构在电信行业占有率的增加，单板的逻辑及软件版本的更新必然更加频繁，同时大规模集成电路越来越多的内嵌了支持IEEE1149.1协议的JTAG技术以便支持其测试及维护，借助于JTAG技术，越来越多的芯片能够支持ISP(In System Programe在系统可编程)及ICT(In Circuit Test电路在线测试)技术，这种编程及维护方式正逐渐成为设计的主流。\n[0006] 目前的JTAG技术都是基于IEEE1149.1标准，其在单板中的应用基本上基于图\n2及图3的方式。如图2所示，对所有JTAG器件均独立使用一个JTAG插座，这种使用情况较多，实现简单，但是增加板上插座数量，同时增加了成本和布局面积，并造成现场维护困难；图3的连接方式为JTAG菊花链的改进型，将板上所有JTAG器件串接成同一条菊花链，如果电平不同，还需要做电平转换，这种方式可以减少插座使用数量，但是菊花链的延长使得该链的TCK最大频率受该链中最低TCK频率器件的限制，同时导致整条链上BSC(BoundaryScan Cell边界扫描单元)的增加，严重降低JTAG扫描的速度，并且对于不同电平的JTAG还需要额外增加电平转换器件。\n[0007] SJTAG(System-level Joint Test Act ion Group系统级联合测试行动组织)技术在基于已废弃的IEEE1149.5协议的基础上，SJTAG小组开始正式发展系统级边界扫描标准，专注于系统层面的测试和配置，SJTAG是以背板互联为依托的一种多板甚至多框测试配置方案。\n[0008] 在一个独立的机框中各单板中JTAG设备的边界扫描以及更新可以由单板独立完成以实现自更新/自测试，或使用其他控制板通过某种类型总线传送到该单板进行从而实现远程更新/远程测试，如图4所示。根据ATCA的规范，管理板与单板之间的通讯为IPMB，IPMB即为IIC总线，IIC总线的全速为400Kbit/s，在进行大量测试以及更新数据传送时，该总线速率成为瓶颈。此为JTAG技术技术在ATCA中应用的第一不利因素\n[0009] 此外，如图4所示的通讯方式要求位于单板上的本地控制器，BMC(Baseboard Management Controller基板管理控制器)或者IPMC，处于工作状态，如果本地控制器没有处于工作状态，例如在工厂生产测试情况下或者本地控制器由于某种原因处于故障状态，将无法进行JTAG测试流程。此为JTAG技术在ATCA中应用的第二个不利因素。\n[0010] 另外，基于PICMG R3.0标准衍生发展的PICMG AMC.0 Rx标准，使得AMC子卡的应用逐渐增多，AMC子卡的设计也越来越复杂多样，使用的JTAG设备也越来越多，而AMC标准仅提供一套JTAG接口，如果仅仅将AMC上所有JTAG如图3串成一条菊花链，随着器件的增加，菊花链中的BSC必然越来越多从而影响测试速度。这是JTAG技术在ATCA中应用的第三个不利因素。\n[0011] 现有的专利文献包括：专利申请号为200610063507.7的中国专利申请“一种ATCA中JTAG器件远程维护的方法及系统”的缺点为：升级方式主要采用IPMB，传输速度理论最高只能到400kbit/s，有效下载速度会更慢，严重影响升级速度；依赖BMC作为单板下载数据的执行器，BMC为单板JTAG下载的核心器件，如果BMC故障，整板无法完成在线下载，存在风险；由于基于BMC设计，难以做到系统级的JTAG测试，使JTAG技术失去了其原本的作用。\n[0012] 另外，专利申请号为200710143086.3的中国专利申请“基于高性能计算通讯架构的边界扫描系统及方法”其缺点为：无法对ATCA架构中的CMM板进行主备互升；AMC子卡JTAG设计不够灵活，对JTAG的使用规划不明，有可能导致测试复杂度增加；无法获得单板信息；未对CMM在升级及测试中的作用进行规划，对CMM备板测试可能覆盖不全；测试种类单一。\n发明内容\n[0013] 为解决上述问题，本发明公开了一种ATCA体系中的配置和测试方法及系统，其目的在于提升ATCA测试和配置速度，可进行管理板测试和配置，测试时不需要被测单板本地控制器处于工作状态，可对全框进行现场测试和配置。\n[0014] 本发明公开了一种高性能通讯计算架构体系中的配置和测试系统，包括：\n[0015] JTAG桥片，位于被测试单板上，用于在测试控制单元的控制下选通所述JTAG桥片连接的JTAG器件、JTAG链、JTAG桥片和/或JTAG驱动；\n[0016] 测试控制单元，用于获得用于进行测试或配置的测试向量，并控制JTAG桥片选通所述JTAG桥片连接的JTAG器件、JTAG链、JTAG桥片和/或JTAG驱动，从而连通到指定的JTAG器件和/或JTAG链，向所述指定的JTAG器件和/或JTAG链发送所述测试向量以进行测试或配置。\n[0017] 所述测试控制单元为两个机框管理模块之一，所述机框管理模块包括测试控制器，所述测试控制器具有所述测试控制单元的功能，所述两个机框管理模块通过主备竞争确定其一为主用机框管理模块，另一个为备用机框管理模块，所述主用机框管理模块为所述测试控制单元，所述备用机框管理模块为所述被测试单板。\n[0018] 所述系统还包括另一个JTAG桥片，所述另一个JTAG桥片位于高级夹层子卡上，所述高级夹层子卡位于被测试单板上，通过位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片同位于被测试单板上的JTAG桥片连接，所述高级夹层子卡包括JTAG器件和/或JTAG链，所述JTAG器件和/或JTAG链同位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片连接；\n[0019] 位于被测试单板上的JTAG桥片进一步用于在所述测试控制单元控制下选通所述位于高级夹层子卡上的JTAG桥片；\n[0020] 位于高级夹层子卡上的JTAG桥片用于在所述测试控制单元控制下选通所述高级夹层子卡上的JTAG桥片连接的位于所述高级夹层子卡上的JTAG器件和/或JTAG链。\n[0021] 所述系统还包括存储模块，所述存储模块为JTAG器件，位于所述被测试单板上，同位于被测试单板的JTAG桥片连接或位于同该JTAG桥片连接的JTAG链中，用于存储所述被测试单板的信息；\n[0022] 所述测试控制单元，还用于扫描位于所述被测试单板上的存储模块以获得所述被测试单板的信息；和/或，\n[0023] 所述系统还包括另一个存储模块，该存储模块为JTAG器件，位于所述高级夹层子卡上，同位于高级夹层子卡的JTAG桥片连接或位于同该JTAG桥片连接的JTAG链中，用于存储所述高级夹层子卡的信息；\n[0024] 所述测试控制单元，还用于扫描位于所述高级夹层子卡上的存储模块以获得所述高级夹层子卡的信息。\n[0025] 本发明还公开了一种高性能通讯计算架构体系中的配置和测试方法，包括如下步骤，\n[0026] 步骤1，测试控制单元获得用于进行测试或配置的测试向量；\n[0027] 步骤2，所述测试控制单元控制JTAG桥片选通所述JTAG桥片连接的JTAG器件、JTAG链、JTAG桥片和/或JTAG驱动，从而连通到指定的JTAG器件和/或JTAG链，向所述指定的JTAG器件和/或JTAG链发送所述测试向量以进行测试或配置。\n[0028] 所述步骤2前还包括：\n[0029] 步骤61，两个机框管理模块通过主备竞争确定其一为主用机框管理模块，另一个为备用机框管理模块，所述主用机框管理模块确定其自身为所述测试控制单元，所述备用机框管理模块确定其自身为被测试单板。\n[0030] 所述步骤1进一步包括，所述主用机框管理模块从外部测试机获得所述测试向量，或者，获得其中存储的所述测试向量，或者，根据JTAG器件的边界扫描描述语言文件和被测试单板的网表文件生成所述测试向量。\n[0031] 所述方法还包括；\n[0032] 步骤81，规划位于所述被测试单板上的JTAG桥片地址及JTAG器件位置；\n[0033] 步骤82，所述测试控制单元发送包含位于所述被测试单板上的JTAG桥片地址的测试包，判断所述被测试单板是否在位，如果该JTAG桥片回复响应，确定所述被测试单板在位，否则，确定所述被测试单板不在位；\n[0034] 步骤83，确定所述被测试单板在位后，所述测试控制单元根据所述规划控制所述JTAG桥片选通所述JTAG桥片连接的存储模块或存储模块所在的JTAG链，并扫描所述存储模块以获得其中存储的被测试单板信息。\n[0035] 所述被测试单板插有高级夹层子卡，\n[0036] 所述步骤2进一步包括，所述测试控制单元控制位于被测试单板上的JTAG桥片选通到所述被测试单板上的JTAG桥片连接的位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片，再控制位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片选通到所述高级夹层子卡上的JTAG桥片连接的所述高级夹层子卡包括的指定JTAG器件或JTAG链。\n[0037] 所述方法还包括：\n[0038] 步骤101，规划位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片地址及JTAG器件位置；\n[0039] 步骤102，所述测试控制单元发送包含位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片地址的测试包，判断所述高级夹层子卡是否在位，如果位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片回复响应，确定所述高级夹层子卡在位，否则，确定所述高级夹层子卡不在位；\n[0040] 步骤103，确定所述高级夹层子卡在位后，所述测试控制单元根据所述规划控制位于所述高级夹层子卡上的JTAG桥片选通所述高级夹层子卡上的JTAG桥片连接的存储模块或存储模块所在的JTAG链，并扫描该存储模块以获得其中存储的高级夹层子卡的信息。\n[0041] 本发明有益效果在于能够通过系统化的方法进行测试，并能够对设备进行直接测试和配置，在机框单板满配置的情况下也能够直接依次配置JTAG链，减少人工干预的操作，实现高速自动化操作，从而提高了测试点覆盖率，降低了研发和生产隐患，提高了工作效率，并充分发挥JTAG技术特点。\n附图说明\n[0042] 图1是ATCA基本管理结构图；\n[0043] 图2是JTAG器件独立型连接图；\n[0044] 图3是JTAG器件菊花链连接图；\n[0045] 图4是依赖本地控制器的JTAG测试结构图；\n[0046] 图5是本发明具体实施方式的系统结构图；\n[0047] 图6是CMM结构图；\n[0048] 图7是应用外部测试机测试系统结构图；\n[0049] 图8是具体实施方式测试流程图。\n具体实施方式\n[0050] 具体实施方式中的JTAG链可以为一个JTAG器件也可以为多个JTAG器件的连接链。\n[0051] 本发明具体实施方式的系统结构图如图5所示，包括JTAG桥片、CMM和PLD。\n[0052] CMM的内部结构如图6所示。\n[0053] 两个CMM通过两者间连线进行上电逻辑竞争后确定两者主用和备用分工。主用CMM为系统的测试控制单元，备用CMM为被测试单板。\n[0054] CMM包括ETC(Embedded Test Controllor嵌入式测试控制器)，当CMM为主用时，ETC用于控制测试和配置过程，负责发送测试向量以进行目标JTAG器件的测试和配置。所述测试向量可以为CMM自身生成或存储的文件，也可以是从外部测试机接收的文件。如图\n7所示，CMM同外部测试机连接从其获得测试向量。\n[0055] CMM还包括JTAG桥片，当CMM作为备用CMM时，CMM为被测试单板，测试和配置过程同其他被测试单板相同，备用CMM的JTAG桥片通过主用CMM控制选通被测试CMM的JTAG链。\n[0056] 被测试单板，包括JTAG器件和JTAG链。\n[0057] 位于被测试单板上的JTAG桥片，具有多个LSP(Local Scan Port本地扫描端口)，分别连接被测试单板上JTAG链(如PLD和CPU)及包含位于AMC的JTAG桥片或AMC的JTAG驱动，用于通过主用CMM控制选通指定的JTAG链。\n[0058] AMC，位于被测试单板上，包括JTAG链，在其上没有JTAG桥片时，还包括JTAG驱动，JTAG驱动连接位于被测试单板的JTAG桥片和位于AMC的JTAG链。\n[0059] 位于AMC上的JTAG桥片，一方同被测试单板的JTAG桥片连接，另一方通过多个LSP连接AMC的多个JTAG链，用于通过主用CMM控制选通AMC的指定JTAG链。\n[0060] 所述系统还包括背板，背板上使用规范规定的Metallic Test(铃状测试线)总线实现单端的5线制JTAG测试总线。\n[0061] 所述系统还包括机框，机框上具有JTAG测试总线的接口，在计算复杂的测试情况下，通过所述JTAG测试总线接口，不使用CMM，直接接入外部测试机进行测试或配置。此时的外部测试机包括系统的测试控制单元，控制测试和配置过程。\n[0062] PLD分别位于所述被测试单板(包括备用CMM)和AMC，位于被测试单板的PLD配置有单板信息，位于AMC的PLD配置有AMC信息，测试控制单元通过扫描获得该信息。\n[0063] 在测试或配置时，需要明确器件地址和位置，本发明具体实施方式对器件地址和位置做如下规划。\n[0064] 位于被测试单板和CMM的JTAG桥片地址直接使用ATCA槽位地址或经过逻辑运算获得。\n[0065] 位于AMC的JTAG桥片地址使用AMC插座槽位地址或逻辑运算获得。\n[0066] 位于被测单板的JTAG桥片的LSP0连接IPMC或者BMC，包含单板信息的PLD位于连接LSP1的JTAG链的第一个位置，每个AMC或被测单板上的JTAG链单独使用一个LSP。\n[0067] 如果AMC上包含JTAG桥片，即使用二级JTAG桥片实现扩展，二级JTAG桥片LSP0连接MMC，包含AMC信息的PLD位于连接LPS1的JTAG链的第一个位置；如果AMC未使用二级JTAG桥片，则MMC处于JTAG链的第一个位置，包含AMC信息的PLD位于第二个位置。\n[0068] 进行测试或配置方法的具体实施方式流程如图8所示。\n[0069] 步骤S801，机框上电；\n[0070] 步骤S802，两个CMM进行主备竞争；\n[0071] 步骤S803，根据竞争结果，CMM确定其是否为主用板，如果是主用板则转步骤S807，否则转步骤S804；\n[0072] 步骤S804，CMM为被测试单板，测试和配置过程与其他被测试单板相同；\n[0073] 步骤S805，外部测试机启动，此步骤为可选，当主用CMM为转发型时，流程中执行此步骤；\n[0074] 步骤S806，外部测试机生成测试向量，此步骤为可选，当主用CMM为转发型时，流程中执行此步骤；\n[0075] 步骤S807，主用CMM确定其为系统测试控制单元，负责下发测试向量给目标JTAG器件；\n[0076] 步骤S808，主用CMM判断其是否为转发型，如果是则接收外部测试机发送的测试向量，转步骤S810，否则，转步骤S809；\n[0077] 步骤S809，主用CMM生成测试向量，可以根据被测试的JTAG器件的BSDL(Boundary Scan Description Language边界扫描描述语言)文件以及单板网表文件(NetList)生成测试向量，或者直接取出存储的测试向量；\n[0078] 步骤S810，主用CMM确定待被测试单板位置，下发包含被测试测单板的JTAG桥片地址的查询测试包，如果收到被测单板的JTAG桥片的响应则确定单板在位，进行下面步骤，否则确定单板不在位，退出；\n[0079] 步骤S811，主用CMM通过被测试单板的JTAG桥片地址选择JTAG桥片；\n[0080] 步骤S812，主用CMM控制JTAG桥片连通LSP1；\n[0081] 步骤S813，主用CMM扫描同LPS1连接的JTAG链上处于第一个位置的指定PLD的指定管脚，获得被测试单板的信息；\n[0082] 步骤S814，主用CMM判断是否访问AMC，如果访问则执行步骤S815，否则执行步骤S821；\n[0083] 步骤S815，主用CMM根据获得的单板信息，判断AMC是否使用二级JTAG桥片，如果使用二级JTAG桥片，则执行步骤S816，否则执行步骤S819；\n[0084] 步骤S816，确定AMC位置，主用CMM根据子卡槽位获得二级JTAG桥片地址，发送查询测试包，如果接收到二级JTAG桥片的响应则确定该AMC在位，执行下面步骤，否则，确定AMC不在位，退出；\n[0085] 步骤S817，主用CMM控制被测试单板的JTAG桥片连通二级JTAG桥片；\n[0086] 步骤S818，主用CMM控制二级JTAG桥片连通LSP1；\n[0087] 步骤S819，如果AMC使用二级JTAG桥片，主用CMM扫描与二级JTAG桥片的LSP1连接的JTAG链上处于第一个位置的指定PLD的指定管脚，以获得AMC信息，否则，主用CMM扫描JTAG链上处于第二个位置的指定PLD的指定管脚，以获得AMC信息；\n[0088] 步骤S820，根据AMC信息修订并确定测试向量，控制被测试单板的JTAG桥片选通到指定的AMC，并控制ACM的二级桥片选通到指定的JTAG链或直接连接到指定的JTAG链，选择指定的JTAG器件发送测试向量开始进行测试或配置；\n[0089] 步骤S821，根据获得的被测试单板的信息修订并确定测试向量，主用CMM根据测试向量的信息控制JTAG桥片连通指定LSP；\n[0090] 步骤S822，主用CMM根据测试向量的信息选择连接LSP的JTAG链上的指JTAG器件；\n[0091] 步骤S823，发送测试向量开始进行测试或配置。\n[0092] 本发明另一个实施例是使用外部测试机作为系统测试控制单元，外部测试机使用机框上的JTAG测试总线的接口进行测试和配置，应用测试向量进行测试和配置的过程同上述实施方式中方法的对应部分相同。