基于三次样条插值算法的球面近场相位测量方法及系统

发明专利有效专利

申请号：
CN202110649744.6
IPC分类号：G01R29/10;G01R29/08
申请日期：
2021-06-10
申请人：
北京邮电大学

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专利名称	基于三次样条插值算法的球面近场相位测量方法及系统
申请号	CN202110649744.6	申请日期	2021-06-10
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2021-10-29	公开/公告号	CN113567766A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R29/10 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R29/00 不包括在G01R 19/00至G01R 27/00各组中的电量的测量或指示装置 G01R29/08 电磁场特性的测量 G01R29/10 天线的辐射图〔1，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;R;2;9;/;1;0;;;G;0;1;R;2;9;/;0;8查看分类表>
申请人	北京邮电大学	申请人地址	北京市海淀区西土城路10号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京邮电大学	当前权利人	北京邮电大学
发明人	王卫民;王佳鑫;吴永乐
代理机构	北京金咨知识产权代理有限公司	代理人	宋教花

摘要

本申请具体涉及一种基于三次样条插值算法的球面近场相位测量方法及系统，该方法包括：获取测试天线辐射近场区的第一近场幅度数据和第二近场幅度数据；使用三次样条插值算法得到第一插值幅度数据和第二插值幅度数据；基于第一插值幅度数据计算第一球面的迭代场分布，并基于第一球面的迭代场分布计算第二球面的初始迭代场分布；基于初始迭代场分布，通过幅值替代后，再通过球模式展开得到第一球面的迭代场分布，第一球面的迭代场分布含有计算得到的待校验幅度数据；计算第一近场幅度数据和待校验幅度数据的误差值；若误差值小于预设值，输出还原的第一球面的电场相位分布，本文有效解决了球面近场测量中近场相位难以测量的技术问题。

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