一种基于有理分式拟合多能投影曲线的X射线能谱估计方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201711201563.7
IPC分类号：G01N23/046
申请日期：
2017-11-27
申请人：
首都师范大学

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专利名称	一种基于有理分式拟合多能投影曲线的X射线能谱估计方法
申请号	CN201711201563.7	申请日期	2017-11-27
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2018-05-18	公开/公告号	CN108051458A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/046 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕 G01N23/046 应用X光断层技术，如计算机X光断层技术〔2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;0;4;6查看分类表>
申请人	首都师范大学	申请人地址	北京市大兴区北京经济技术开发区博兴九路2号院3号楼13层1508 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	俐玛光电科技（北京）有限公司	当前权利人	俐玛光电科技（北京）有限公司
发明人	赵云松;罗婷;赵星
代理机构	天津盛理知识产权代理有限公司	代理人	韩晓梅

摘要

本发明公开一种基于有理分式拟合多能投影曲线的X射线能谱估计方法，步骤如下：(1)设置X光机电压NkV，扫描M组不同厚度的模体，得到测量数据(Hj,pj),j＝1,…,M；(2)采用二次有理分式由测量数据拟合多能投影曲线P(H)；(3)在上述多能投影曲线上密集采样，得到采样数据(Hk,pk),k＝1,2,…,M*；(4)利用采样数据(Hk,pk),k＝1,2,…,M*，构造线性方程组，并求解得到X射线能谱。由于二次有理分式参数少，少量测量数据即可拟合出高精度的多能投影曲线。因此，本发明方法能够显著减少能谱估计需要的测量数据的个数，有效降低能谱估计的工作量。

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该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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