一种聚胺高分子氧化度的荧光分析方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110541099.6
IPC分类号：G01N21/64
申请日期：
2021-05-18
申请人：
北京化工大学

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著录项信息

专利名称	一种聚胺高分子氧化度的荧光分析方法
申请号	CN202110541099.6	申请日期	2021-05-18
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-08-20	公开/公告号	CN113281316A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/64 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/63 光学激发的〔3〕 G01N21/64 荧光；磷光〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;6;4查看分类表>
申请人	北京化工大学	申请人地址	北京市朝阳区北三环东路15号北京化工大学变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京化工大学	当前权利人	北京化工大学
发明人	袁智勤;周贺;吕超
代理机构	北京太兆天元知识产权代理有限责任公司	代理人	王宇

摘要

本发明公开了一种聚胺高分子氧化度的荧光分析方法。该分析方法是通过将聚胺高分子经酸化加热处理后生成具有希夫碱官能团的聚合物，基于荧光测试可得到聚胺高分子氧化度定量分析结果。本发明的荧光分析方法，能够对不同氧化程度的聚胺高分子以及不同分子量的聚胺高分子进行很好的区分与识别，还可以判断聚胺高分子的快速氧化时间区间，对聚胺高分子的使用保存期限具有指导用。

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