一种电阻法检测碳化硅微粉粒度的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201210512946.7
IPC分类号：G01N15/02;G01N1/28
申请日期：
2012-12-05
申请人：
平顶山易成新材料股份有限公司

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专利名称	一种电阻法检测碳化硅微粉粒度的方法
申请号	CN201210512946.7	申请日期	2012-12-05
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-04-03	公开/公告号	CN103018142A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N15/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N15/00 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积（微生物的识别入C12Q）〔1，4，2006.01〕 G01N15/02 测试颗粒的粒度或粒经分布（G01N 15/04，G01N 15/10优先；通过测定渗透压力入G01N 7/10；）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;5;/;0;2;;;G;0;1;N;1;/;2;8查看分类表>
申请人	平顶山易成新材料股份有限公司	申请人地址	河南省平顶山市高新技术开发区建设路东段631号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	平顶山易成新材料有限公司	当前权利人	平顶山易成新材料有限公司
发明人	曲丽伟;梁贵振;夏军;杨正宏;叶小迷;张向峰;苏燕;张强
代理机构	洛阳公信知识产权事务所（普通合伙）	代理人	李宗虎

摘要

一种电阻法检测碳化硅微粉粒度的方法，步骤如下：将待检测样品放置在容器内，加入纯水，然后搅拌，备用，然后将容器放置在超声细胞粉碎放置隔音箱内分散处理，第一次处理完成后取出静置1-2min后，再次向容器内加入纯水，加入纯水的质量是容器内碳化硅微粉浆料质量的0.1-0.2倍，摇晃均匀后备用，再次进行超声分散处理，处理完成，碳化硅溶液分散完毕，备用；采用COULTER颗粒计数仪进行碳化硅微粉粒度的检测；该方法在碳化硅微粉粒径检测中首次采用多次的超声细胞粉碎震荡处理，并且调整最佳震荡功率和处理时间，以间歇性方式对碳化硅微粉的团聚颗粒进行分散处理，该方法最大化降低假性的“大颗粒”的存在，提高检测精度和检测效率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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