脉冲太赫兹辐射源输出波束场形的测量装置及方法

发明专利无效专利

申请号：
CN201210153568.8
IPC分类号：G01J5/20
申请日期：
2012-05-15
申请人：
中国科学院上海微系统与信息技术研究所

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著录项信息

专利名称	脉冲太赫兹辐射源输出波束场形的测量装置及方法
申请号	CN201210153568.8	申请日期	2012-05-15
法律状态	驳回	申报国家	中国
公开/公告日	2012-08-15	公开/公告号	CN102636269A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01J5/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01J 红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法〔2〕 G01J5/00 辐射高温测定法 G01J5/10 用电辐射检测器 G01J5/20 用对辐射敏感的电阻器，热敏电阻器或半导体〔1，2006.01〕	IPC分类号	G;0;1;J;5;/;2;0查看分类表>
申请人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	申请人地址	上海市长宁区长宁路865号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所	当前权利人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所
发明人	谭智勇;曹俊诚;陈镇
代理机构	上海光华专利事务所	代理人	李仪萍

摘要

本发明公开了一种脉冲太赫兹辐射源输出波束场形的测量装置及方法，该装置包括：脉冲太赫兹辐射源，用以辐射出脉冲太赫兹辐射；安装于一低温恒温器中的太赫兹量子阱探测器，用以探测脉冲太赫兹辐射，并产生相应的脉冲电流信号；二维平移台，用以实现太赫兹量子阱探测器及低温恒温器的二维移动；低温恒温器安装于二维平移台上；信号处理电路，与太赫兹量子阱探测器连接，用以将脉冲电流信号提取为脉冲电压信号，并进行放大，输出电信号；示波器，与信号处理电路相连，用以显示放大后的电信号。本发明可直接得到脉冲太赫兹辐射波束在空间某点的功率，进而得到其二维强度分布，且测量精度高，解决了针对小偏压探测器进行信号处理的问题。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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