全深度探测的频域光学相干层析成像的方法及其系统

发明专利有效专利

申请号：
CN200610028629.2
IPC分类号：G01N21/45;A61B5/00
申请日期：
2006-07-05
申请人：
中国科学院上海光学精密机械研究所

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著录项信息

专利名称	全深度探测的频域光学相干层析成像的方法及其系统
申请号	CN200610028629.2	申请日期	2006-07-05
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2006-12-13	公开/公告号	CN1877305
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/45 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/17 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统（其中所测试的材料因受到光学激发而引起入射光波长改变的入G01N 21/63）〔3〕 G01N21/41 折射率；影响相位的性质，例如光程长度（G01N 21/21优先）〔3〕 G01N21/45 利用干涉量度法，利用纹影方法〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;4;5;;;A;6;1;B;5;/;0;0查看分类表>
申请人	中国科学院上海光学精密机械研究所	申请人地址	上海市800-211邮政信箱变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所	当前权利人	中国科学院上海光学精密机械研究所
发明人	步鹏;王向朝
代理机构	上海新天专利代理有限公司	代理人	张泽纯

摘要

一种全深度探测的频域光学相干层析成像的方法及其系统，方法是利用正弦相位调制方法重建低相干光频域干涉信号的复振幅量，然后对该复振幅信号作逆傅立叶变换得到被测物体的层析图，以消除频域光学相干层析成像中存在的复共轭镜像、直流背景和自相干噪声三种寄生像，达到扩大频域光学相干层析成像的成像深度为原来的2倍，实现全深度探测的频域光学相干层析成像的目的。本发明与现有技术相比具有抗环境干扰能力强，对光源波长无关和系统结构简单的优点。

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