一种绝缘缺陷定位的方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201210446608.8
IPC分类号：G01R31/12;G01S11/06
申请日期：
2012-11-10
申请人：
西安交通大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种绝缘缺陷定位的方法
申请号	CN201210446608.8	申请日期	2012-11-10
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2013-03-13	公开/公告号	CN102967807A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/12 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46） G01R31/12 测试介电强度或击穿电压	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;1;2;;;G;0;1;S;1;1;/;0;6查看分类表>
申请人	西安交通大学	申请人地址	陕西省西安市碑林区咸宁西路28号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安交通大学	当前权利人	西安交通大学
发明人	王小华;李天辉;荣命哲;刘定新
代理机构	北京科亿知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	汤东凤

摘要

本发明公开了一种用于GIS内部局部放电在线监测中绝缘缺陷定位的方法。该定位方法基于局部放电检测的超高频（UHF）法，利用GIS内不同圆周角度上耦合电磁波的峰峰值衰减变化规律对缺陷在GIS横截面上的圆周角度进行定位；提出了一种单独提取超高频电磁波中TM模的方法，并利用轴向方向上耦合电磁波的衰减变化规律对缺陷进行轴向定位。该方法避免了传统的利用电磁波传播时间差定位的方法中，放电起始时刻读取困难的缺点，可以有效地对GIS中的局部放电进行定位。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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