OLED面板用外观缺陷检测系统及其检测方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201810014414.8
IPC分类号：G01N21/95
申请日期：
2018-01-08
申请人：
凯吉凯精密电子技术开发（苏州）有限公司

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著录项信息

专利名称	OLED面板用外观缺陷检测系统及其检测方法
申请号	CN201810014414.8	申请日期	2018-01-08
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2018-05-11	公开/公告号	CN108020563A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/95 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/84 专用于特殊应用的系统〔3〕 G01N21/88 测试瑕疵、缺陷或污点的存在〔3〕 G01N21/95 特征在于待测物品的材料或形状（G01N 21/89至G01N 21/91，G01N 21/94优先）〔7〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;9;5查看分类表>
申请人	凯吉凯精密电子技术开发（苏州）有限公司	申请人地址	江苏省苏州市金鸡湖大道1355号国际科技园2A1-A2单元变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	凯吉凯精密电子技术开发（苏州）有限公司	当前权利人	凯吉凯精密电子技术开发（苏州）有限公司
发明人	钱方杰;黄美娟
代理机构	南京苏科专利代理有限责任公司	代理人	蒋慧妮

摘要

本发明提供了一种OLED用外观缺陷检测单元，包括图像采集机构，图像采集机构的下方依次设有光源反射机构及暗光源出光机构，光源反射机构置于图像采集机构采集端两侧，暗光源出光机构置于光源反射机构的外侧，图像采集机构与光源反射机构之间还设有第二图像采集机构，第二图像采集机构的采集端置有半透半反射机构。本发明可以很方便的检测到产品多个角度的外观，以更好的对产品进行缺陷检测，整个检测单元及系统结构新颖简便，成本低，实用性高。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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