使用在固定角位置的源和检测器的原位X射线衍射系统

发明专利有效专利

申请号：
CN200480028984.9
IPC分类号：G01N23/20;G01N23/207
申请日期：
2004-08-04
申请人：
X射线光学系统公司

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引证文献

著录项信息

专利名称	使用在固定角位置的源和检测器的原位X射线衍射系统
申请号	CN200480028984.9	申请日期	2004-08-04
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2006-11-15	公开/公告号	CN1864062
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N23/20 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N23/14 （转入G01N 23/083-G01N 23/087， G01N 23/12） G01N23/20 利用材料辐射的衍射，例如，用于测试晶体结构；利用材料辐射的散射，例如测试非晶材料；利用材料辐射的反射〔1，2006.01，2018.01〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;3;/;2;0;;;G;0;1;N;2;3;/;2;0;7查看分类表>
申请人	X射线光学系统公司	申请人地址	美国纽约变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	X射线光学系统公司	当前权利人	X射线光学系统公司
发明人	戴维·M·吉布森;沃尔特·M·吉布森;黄华鹏
代理机构	永新专利商标代理有限公司	代理人	夏青

摘要

一种X射线衍射技术，用于在原位状态测量材料样品的已知特性。该技术包括使用一种用以发射大体上发散的X射线辐射的X射线源，其具有相对于固定源设置的准直光学元件，以通过接收该发散X射线辐射和改向该发散X射线辐射的发散路径，产生大体上平行的X射线辐射束。第一X射线检测器收集自该样品衍射的辐射；其中根据有关该样品的已知特性的先验知识，该源和检测器在其运行期间彼此相对地、且在该样品的至少一个尺度中被固定。根据有关该样品已知特性的先验知识，特别是在本发明的相监测实施例中，可相对于该第一X射线检测器固定第二X射线检测器。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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