使用锯齿型金属长周期光栅测试保偏光纤参数方法和装置

发明专利无效专利

申请号：
CN200710098760.0
IPC分类号：G01M11/02;G01D5/26;G02B6/27
申请日期：
2007-04-26
申请人：
北京交通大学

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专利名称	使用锯齿型金属长周期光栅测试保偏光纤参数方法和装置
申请号	CN200710098760.0	申请日期	2007-04-26
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2007-09-12	公开/公告号	CN101034036
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2;;;G;0;1;D;5;/;2;6;;;G;0;2;B;6;/;2;7查看分类表>
申请人	北京交通大学	申请人地址	北京市西直门外上园村3号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	北京交通大学	当前权利人	北京交通大学
发明人	裴丽;赵瑞峰;祁春惠;宁提纲;童治;刘艳;谭中伟;延凤平
代理机构	北京市商泰律师事务所	代理人	毛燕生

摘要

使用锯齿型金属长周期光栅测试保偏光纤参数方法和装置，涉及到保偏光纤拍长、双折射、保偏光纤温度稳定性等偏振相关参数的测量。包含宽带光源；锯齿型金属长周期光栅，该光栅由公的锯齿部分与母的V型槽相匹配，公的相邻锯齿间的距离为光栅周期，决定测量的波长范围；金属长周期光栅和被测保偏光纤的部分一起置于温度控制器中。由于双折射的存在，同阶耦合模将分裂，在光谱仪上显示有波长差，通过波长差及其金属光栅的周期就可以求出保偏光纤的双折射，通过测得的双折射进而得到保偏光纤的偏振相关的其它参数。改变温度控制系统的温度就可以得到保偏光纤偏振温度相关的特性。具有结构紧凑、易于实施、响应速度快、测试精度高和测量准确等特点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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