一种低温辐射计布儒斯特窗口透过率测量装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201420310420.5
IPC分类号：G01M11/02
申请日期：
2014-06-12
申请人：
中国电子科技集团公司第四十一研究所

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著录项信息

专利名称	一种低温辐射计布儒斯特窗口透过率测量装置
申请号	CN201420310420.5	申请日期	2014-06-12
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件 G01M11/02 光学性质的测试	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人	中国电子科技集团公司第四十一研究所	申请人地址	山东省青岛市经济技术开发区香江路98号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国电子科技集团公司第四十一研究所	当前权利人	中国电子科技集团公司第四十一研究所
发明人	刘长明;史学舜;赵坤;刘玉龙
代理机构	济南舜源专利事务所有限公司	代理人	王连君

摘要

一种低温辐射计布儒斯特窗口透过率测量装置，包括三通真空管、直线驱动器及探测器。其中三通真空管的纵向开口端设有第一法兰和第二法兰，横向端开口设有第三法兰，三通真空管上装有直线驱动器；其中直线驱动器包括旋转把手、外筒、波纹管、第四法兰和驱动轴，通过转动旋转把手可以实现驱动轴沿轴向的直线移动，外筒壁上带有刻度，通过旋转把手的位置可以确定驱动轴的行程；探测器与驱动轴伸入三通真空管内的一端相连接，随着驱动轴的移动而移出或切入光路。该测量装置可保证透过率测量时光斑在窗口上的位置不会发生变化，大大减小窗口透过率对标准传递过程所带来的测量不确定度，极大提高了低温辐射计的量值传递精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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