用于铅锤测量的具有卷尺和摆锤的测量装置

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专利名称	用于铅锤测量的具有卷尺和摆锤的测量装置
申请号	CN03821528.4	申请日期	2003-09-03
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2005-10-12	公开/公告号	CN1682091
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B3/10 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B3/00 各组中所列的以使用机械测量方法为其特征的量具（用于计量特定参量的设备入G01B 5/00；专门适用于或安装供储存和重复放出以及重新储存长度材料的一般装置入B65H 75/34）〔2〕 G01B3/02 用于直接读数的带刻度或标记的尺或卷尺 G01B3/10 可弯曲的	IPC分类号	G;0;1;B;3;/;1;0;;;G;0;1;C;1;5;/;1;0查看分类表>
申请人	马克里特贸易有限公司	申请人地址	爱尔兰都柏林变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	马克里特贸易有限公司	当前权利人	马克里特贸易有限公司
发明人	安德鲁·韦布;迈克尔·米戈
代理机构	北京市柳沈律师事务所	代理人	马高平;杨梧

摘要

一种测量装置，该测量装置包括具有卷尺支架(26′)的手柄(22)，以及附着于该手柄的摆锤(24)，这样，在该摆锤垂直向下地悬垂的情况下，测量卷尺(30)可以从该卷尺支架侧向伸出可变的长度。在优选地实施方式中，具有两个在该手柄上可绕该摆锤的轴旋转的卷尺支架(26′)和(26″)。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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