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具有穿衬底通孔的半导体器件

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201210327420.1
  • IPC分类号:H01L23/48;H01L21/768
  • 申请日期:
    2012-08-09
  • 申请人:
    马克西姆综合产品公司
著录项信息
专利名称具有穿衬底通孔的半导体器件
申请号CN201210327420.1申请日期2012-08-09
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2013-03-06公开/公告号CN102956588A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01L23/48IPC分类号H;0;1;L;2;3;/;4;8;;;H;0;1;L;2;1;/;7;6;8查看分类表>
申请人马克西姆综合产品公司申请人地址
美国加利福尼亚州 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人马克西姆综合产品公司当前权利人马克西姆综合产品公司
发明人A·V·萨莫伊洛夫;T·帕伦特;X·郢
代理机构永新专利商标代理有限公司代理人舒雄文;王英
摘要
本发明涉及一种具有在其中形成的穿衬底通孔的半导体器件。在一个或多个实施方式中,所述半导体器件包括利用构图的粘结材料接合在一起的顶部晶片和底部晶片。所述顶部晶片和所述底部晶片包括在其中形成的一个或多个集成电路。所述集成电路连接至配置在所述顶部和所述底部晶片的表面上的一个或多个导电层。形成贯穿所述顶部晶片和所述构图的粘结材料的过孔,使得可以在形成在所述顶部晶片中的所述集成电路与形成在所述底部晶片中的所述集成电路之间形成电互连。所述过孔包括在所述顶部与所述底部晶片之间提供电互连的导电材料。

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