一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201721389721.1
IPC分类号：G01R33/032;G01R33/12;G01R27/26;G01L1/24
申请日期：
2017-10-20
申请人：
金华职业技术学院

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法律信息

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著录项信息

专利名称	一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台
申请号	CN201721389721.1	申请日期	2017-10-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R33/032 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R33/00 测量磁变量的装置或仪器 G01R33/02 测量磁场或磁通量的方向或大小（G01R 33/20优先）〔4〕 G01R33/032 采用磁—光设备，例如法拉第的〔3〕	IPC分类号	G;0;1;R;3;3;/;0;3;2;;;G;0;1;R;3;3;/;1;2;;;G;0;1;R;2;7;/;2;6;;;G;0;1;L;1;/;2;4查看分类表>
申请人	金华职业技术学院	申请人地址	浙江省金华市婺州街1188号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	金华职业技术学院	当前权利人	金华职业技术学院
发明人	贾冬玲;张向平;潘天娟
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本实用新型涉及高压物理实验和材料物性测量的一种用于磁光克尔效应测量的高压样品测试台，套筒内侧面和位移管外侧面均有特殊设计的斜方螺纹，用于对碳化钨顶砧施压的压紧装置的活动结构也采用斜方螺纹，使得在低温环境下光纤与顶砧的压紧装置的热力学形变较为一致，使光路调节更精密；导电玻璃电极板厚度100微米由铟锡氧化物制成、且其表面覆盖有硅烯镀膜；样品位于特氟龙环中心，特氟龙环外圈套有不锈钢环，不锈钢环外圈套有上下两部分组成的铝垫圈，不锈钢环和特氟龙环均具有径向透孔，铜线置于铝垫圈的上下两部分之间，金线穿过不锈钢环和特氟龙环的径向透孔，一端连接样品、另一端连接铜线，特氟龙环和样品之间区域具有支撑金线的颗粒。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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