用于半导体激光器的检测系统

发明专利有效专利

申请号：
CN201410007511.6
IPC分类号：G01M11/00
申请日期：
2014-01-07
申请人：
工业和信息化部电子第五研究所

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法律信息

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著录项信息

专利名称	用于半导体激光器的检测系统
申请号	CN201410007511.6	申请日期	2014-01-07
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2014-04-02	公开/公告号	CN103698106A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01M11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01M 机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试 G01M11/00 光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件	IPC分类号	G;0;1;M;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	工业和信息化部电子第五研究所	申请人地址	广东省广州市天河区东莞庄路110号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	工业和信息化部电子第五研究所	当前权利人	工业和信息化部电子第五研究所
发明人	苏萌;胡洪江;杨林;刘群兴;李树辉;苏良河;黄莉莉
代理机构	广州华进联合专利商标代理有限公司	代理人	王茹;曾旻辉

摘要

本发明公开了一种用于半导体激光器的检测系统，包括测试模块、二维传动装置和设置在所述二维传动装置上的积分球，所述二维传动装置用于将所述积分球传送到多工位半导体激光器的各工位位置，所述测试模块通过所述积分球获取各工位位置的激光样品的测试数据，并对所述测试数据进行测试处理。实施本发明的系统，用单个积分球即可对多层多工位半导体激光器进行测试巡检，易于操作，且极大地降低了测试成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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