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一种基于声学频谱分析物体内部缺陷的检测仪

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202110311972.2
  • IPC分类号:G01N29/04;G01N29/44;G01B21/00;G01B11/02
  • 申请日期:
    2021-03-24
  • 申请人:
    中国科学院力学研究所
著录项信息
专利名称一种基于声学频谱分析物体内部缺陷的检测仪
申请号CN202110311972.2申请日期2021-03-24
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2021-06-25公开/公告号CN113030265A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N29/04IPC分类号G;0;1;N;2;9;/;0;4;;;G;0;1;N;2;9;/;4;4;;;G;0;1;B;2;1;/;0;0;;;G;0;1;B;1;1;/;0;2查看分类表>
申请人中国科学院力学研究所申请人地址
北京市海淀区北四环西路15号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院力学研究所当前权利人中国科学院力学研究所
发明人陈雪;郇勇;王琮文;郝圣旺;杨荣;冯义辉
代理机构北京和信华成知识产权代理事务所(普通合伙)代理人胡剑辉
摘要
本发明提供一种基于声学频谱分析物体内部缺陷的检测仪,包括壳体,在壳体内安装有电机;敲击锤,设置在壳体外部;声纳装置,设置在敲击锤的四周,用于收集敲击锤的敲打声音;偏心驱动装置,使敲击锤实现间歇性敲打动作;分析系统,通过位移传感器获取敲击锤的敲击路线,同时通过线缆连接声纳装置以获取声音频率,进行粗略和精确分析后,综合确定出现的空鼓位置及尺寸。本发明能够解决饰面层粘贴质量检测过程中操作复杂,劳动强度大等问题,只需控制检测仪按一定轨迹进行移动,敲击锤就会在移动过程中以固定的敲击频率和力敲击瓷砖表面,达到定量敲击的效果。极大的节省了人力成本,且通过分析系统能够对饰面层空鼓或材料缺陷的形状位置进行定量分析。

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