基于片式压敏电阻的纳秒级静电放电电流试验设备

发明专利无效专利

申请号：
CN200810150209.0
IPC分类号：G01R31/00;G01R19/00
申请日期：
2008-06-30
申请人：
西安交通大学

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著录项信息

专利名称	基于片式压敏电阻的纳秒级静电放电电流试验设备
申请号	CN200810150209.0	申请日期	2008-06-30
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2008-12-10	公开/公告号	CN101320068
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0;;;G;0;1;R;1;9;/;0;0查看分类表>
申请人	西安交通大学	申请人地址	陕西省西安市咸宁路28号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安交通大学	当前权利人	西安交通大学
发明人	姚学玲;陈景亮;孙伟
代理机构	西安通大专利代理有限责任公司	代理人	张震国

摘要

基于片式压敏电阻的纳秒级静电放电电流试验设备，采用由片式压敏电阻的静电脉冲形成电路、静电脉冲控制电路、测量夹具、测试电路及计算机管理系统。能够对片式压敏电阻进行0-30kV的单次、规定频率0-50Hz和连续等模式的上升时间为1～2ns的静电放电试验，可以设置放电电压、放电频率、放电次数以及选择试验模式等多项功能。采用鼠笼式快速电流传感器和示波器与工业控制计算机组成的自动测试系统，并采用可视化化的编程环境(如LabView，VB，VC等)，完成片式压敏电阻静电放电试验的数据管理、波形存储于分析、数据查询及报表输出等多项功能。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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