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制造掺杂高挥发性异物的硅单晶的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN200310104772.1
  • IPC分类号:C30B15/04
  • 申请日期:
    2003-10-30
  • 申请人:
    瓦克硅电子股份公司
著录项信息
专利名称制造掺杂高挥发性异物的硅单晶的方法
申请号CN200310104772.1申请日期2003-10-30
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2004-05-26公开/公告号CN1498988
优先权暂无优先权号暂无
主分类号C30B15/04IPC分类号C;3;0;B;1;5;/;0;4查看分类表>
申请人瓦克硅电子股份公司申请人地址
德国慕尼黑 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人硅电子股份公司当前权利人硅电子股份公司
发明人马丁·韦伯;彼得·维尔茨曼;埃里希·格迈尔鲍尔;罗伯特·沃尔布希纳
代理机构永新专利商标代理有限公司代理人过晓东
摘要
一种通过由预定加工条件下容纳在坩埚内的熔化物抽拉硅单晶来制造掺杂高挥发性异物的硅单晶的方法,坩埚内添加适量异物N0以达成该熔化物的预期电阻,于t时间之后,将数量为ΔN(t)的异物后掺杂在熔化物内至少一次,以补偿异物蒸发出熔化物所造成的损失,其中异物的量ΔN(t)是依照方程式ΔN(t)=N0-N(t)=N0·(1-e-λa·t)或依照近似方程式ΔN(t)=N0·λa·t计算出来的,式中λa是说明异物加工特殊蒸发性质的蒸发系数,且是已经测量另一单晶的电阻分布R(t)之后并依照方程式R(t)=R0·eλa·t计算求得,其中R0是起始电阻率,并且所述另一单晶是在预定加工条件下抽拉,但未经后掺杂异物。

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