著录项信息
专利名称 | 检验透明料段,特别是平板玻璃的方法及设备 |
申请号 | CN85109608 | 申请日期 | 1985-12-14 |
法律状态 | 撤回 | 申报国家 | 中国 |
公开/公告日 | 1986-07-23 | 公开/公告号 | CN85109608 |
优先权 | 暂无 | 优先权号 | 暂无 |
主分类号 | 暂无 | IPC分类号 | 暂无查看分类表>
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申请人 | 平玻璃制造公司 | 申请人地址 | 联邦德国菲尔特·奥托-西林大道10-14号
变更
专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效 |
权利人 | 平玻璃制造公司 | 当前权利人 | 平玻璃制造公司 |
发明人 | 卢茨·巴特尔森 |
代理机构 | 中国专利代理有限公司 | 代理人 | 杨凯 |
摘要
检验透明料段,特别是平板玻璃带或类似物料的缺陷的方法及其设备,是用激光器发出的高速光点在与纵向输送的玻璃带或类似物料的输送平面和输送方向相垂直的扫描平面上沿其宽度方向进行扫描,在与扫描平面倾斜的探测器平面上对由于杂质而造成的向前和向后的散射进行测定,根据所获得的测量数据导出电信号,并对其进行物料缺陷鉴别处理,从而鉴别物料的缺陷,其特征在于:将一个在近红外范围工作的激光器用作点光源,以及实施该方法的设备(参见图1)。
1、检验透明料段,特别是平板玻璃带或类似物料的缺陷的方法是,用激光器发出的光点在与纵向输送的玻璃带或类似物料的输送平面和输送方向相垂直的扫描平面上沿其宽度方向进行扫描,在与扫描平面倾斜的探测器平面上对由于杂质而造成的向前和向后的散射进行测定,根据所获得的测量数据导出电信号,对该信号进行物料缺陷鉴定,其特征在于:使用在近红外(IR-)范围工作的激光器作为点光源。
2、根据权利要求1的方法,其特征在于:激光器使用的波长约为1060毫微米。
3、根据权利要求2的方法,其特征在于:YAG-激光器所使用的波长为1060毫微米。
4、根据前列权利要求之一的方法,其特征在于:扫描平面和探测平面之间的角度约为5-45°。
5、根据权利要求4的方法,其特征在于:扫描平面和探测平面之间的角度约为5-15°。
6、根据权利要求5的方法,其特征在于:扫描平面和探测平面之间的角度约为10°。
7、根据前列权利要求之一的方法,其特征在于:由向前和向后的散射形成一个差动信号,并对该差动信号进行评价,以 别物料的缺陷。
8、检验透明料段,特别是平板玻璃带或类似物料的缺陷的设备,是在纵向输送的玻璃带或类似物料的一面上安置点光源,以便在与玻璃带的输送平面和输送方向相垂直的扫描平面上沿玻璃带的宽度方向发出扫描用的激光器产生的高速光点;并在玻璃带或类似物料的两面安置探测器,以便在与扫描平面倾斜的探测器平面上收集由于杂质而造成的向前和向后的散射,特别是用以实施根据前列权利要求的方法,其特征在于:将在近红外(IR-)范围工作的激光器定为点光源。
9、根据权利要求8的设备,其特征在于:将波长为1060毫微米的YAG-激光器定为点光源。
10、根据权利要求8或9的设备,其特征在于:可以通过一个装置对向前和向后的散射形成差动信号,并对其进行评价,以 别物料的缺陷。
11、根据权利要求8至10之一的设备,其特征在于:扫描平面(32)和探测平面(30)之间的角度约为5-45°。
12、根据权利要求11的设备,其特征在于:扫描平面(32)和探测平面(30)之间的角度约为5-15°。
13、根据权利要求12的设备,其特征在于:扫描平面(32)和探测平面(30)之间的角度约为10°。
引用专利(该专利引用了哪些专利)
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 | 该专利没有引用任何外部专利数据! |
被引用专利(该专利被哪些专利引用)
序号 | 公开(公告)号 | 公开(公告)日 | 申请日 | 专利名称 | 申请人 | 1 | | 2007-05-04 | 2007-05-04 | | |
2 | | 2003-05-13 | 2003-05-13 | | |
3 | | 2011-08-10 | 2011-08-10 | | |
4 | | 2011-08-10 | 2011-08-10 | | |