结合定位定姿系统的三维旋转扫描测量系统

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201020270254.2
IPC分类号：G01B11/00
申请日期：
2010-07-22
申请人：
首都师范大学

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著录项信息

专利名称	结合定位定姿系统的三维旋转扫描测量系统
申请号	CN201020270254.2	申请日期	2010-07-22
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;0;0查看分类表>
申请人	首都师范大学	申请人地址	北京市海淀区西三环北路105号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	首都师范大学	当前权利人	首都师范大学
发明人	宫辉力;王留召;钟若飞;刘先林
代理机构	北京市惠诚律师事务所	代理人	雷志刚

摘要

一种结合定位定姿系统的三维旋转扫描测量系统，包括一定位定姿装置、一影像采集装置、一具有一旋转中心的电子转台及一整合装置，所述定位定姿装置及影像采集装置安装在所述电子转台上，且所述定位定姿装置及影像采集装置的坐标中心与所述电子转台的旋转中心重合，所述定位定姿装置用于获取所述电子转台的绝对位置数据，所述影像采集装置用于获取一被测目标物的点云数据，所述整合装置用于对所述电子转台的绝对位置数据以及所述被测目标物的点云数据进行联合解算，以得到所述被测目标物的点云的绝对位置数据并建立所述被测目标物的三维模型。所述结合定位定姿系统的三维旋转扫描测量系统降低了三维测量的工作量。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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