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一种激光跟踪仪平面坐标高精度放样装置及方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN202111067843.X
  • IPC分类号:G01C15/08;G01B11/00;G01C9/34
  • 申请日期:
    2021-09-13
  • 申请人:
    中国科学院近代物理研究所
著录项信息
专利名称一种激光跟踪仪平面坐标高精度放样装置及方法
申请号CN202111067843.X申请日期2021-09-13
法律状态公开申报国家暂无
公开/公告日2021-11-16公开/公告号CN113654540A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01C15/08IPC分类号G;0;1;C;1;5;/;0;8;;;G;0;1;B;1;1;/;0;0;;;G;0;1;C;9;/;3;4查看分类表>
申请人中国科学院近代物理研究所申请人地址
甘肃省兰州市城关区南昌路509号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院近代物理研究所当前权利人中国科学院近代物理研究所
发明人陈文军;杨龙;郑亚军;王少明;袁建东;孙国珍;张旭东;张小东
代理机构北京纪凯知识产权代理有限公司代理人刘小娟
摘要
本发明涉及一种激光跟踪仪平面坐标高精度放样装置及方法。所述装置包括:基体,其设有靶球支撑部和容纳腔;底座,其设于基体外围,被配置为支撑基体,并与基体在竖向相对位置不变,在水平方向相对位置可变;划点组件,被配置为容纳于容纳腔内;水平调节部分,被配置为在竖向与底座相对位置可调;位置调节机构,包括横向位置调节装置和纵向位置调节装置;水平度显示仪,包括在基体的上表面设置的两个沿长度方向的中心线相互垂直的水平气泡仪,每个水平气泡仪的横向或纵向中心线都不经过另一个水平气泡仪。本发明能够精准刻划放样坐标,提升了粒子加速器使用激光跟踪仪在地面放样点的精度和效率。

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