半导体存储装置及其测试方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201810039753.1
IPC分类号：G11C29/42;G11C29/44
申请日期：
2018-01-16
申请人：
爱思开海力士有限公司

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著录项信息

专利名称	半导体存储装置及其测试方法
申请号	CN201810039753.1	申请日期	2018-01-16
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2018-10-23	公开/公告号	CN108694987A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G11C29/42 ? IPC结构图谱： G 物理 G9 G部其他 G11 信息存储 G11C 静态存储器（基于记录载体和换能器之间的相对运动而实现的信息存储入G11B；半导体存储器件入H01L，例如一般脉冲技术入H03K，例如，电子开关入H03K17/00） G11C29/00 存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器〔1，8〕 G11C29/04 损坏存储元件的检测或定位〔8〕 G11C29/08 功能测试，例如，在刷新、通电自检〔POST〕或分布型测试期间的测试〔8〕 G11C29/12 用于测试的内置装置，例如，内置的自检装置〔BIST〕〔8〕 G11C29/38 响应验证装置〔8〕 G11C29/42 用纠错码〔ECC〕或奇偶校验检查〔8〕	IPC分类号	G;1;1;C;2;9;/;4;2;;;G;1;1;C;2;9;/;4;4查看分类表>
申请人	爱思开海力士有限公司	申请人地址	韩国京畿道变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	爱思开海力士有限公司	当前权利人	爱思开海力士有限公司
发明人	姜材锡
代理机构	北京弘权知识产权代理有限公司	代理人	李少丹;许伟群

摘要

一种半导体存储装置包括响应于储存数据和预期数据来产生检测码的比较电路，响应于检测码来产生计数码的计数电路，响应于选择信号来将多个预期码中的一个预期码输出为选择码的选择码输出电路，以及多个信号储存电路。比较结果输出电路包括多个信号储存电路，该比较结果输出电路根据选择信号来将计数码与选择码之间的比较的比较结果储存在多个信号储存电路之中的一个信号储存电路中，以及响应于输出使能信号来将储存在多个信号储存电路之中的一个信号储存电路中的值输出为结果信号。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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