芯片及其使用方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202110368348.6
IPC分类号：G06F11/22
申请日期：
2021-04-06
申请人：
深圳市紫光同创电子有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	芯片及其使用方法
申请号	CN202110368348.6	申请日期	2021-04-06
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2021-07-30	公开/公告号	CN113190386A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F11/22 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G06 计算；推算；计数 G06F 电数字数据处理（基于特定计算模型的计算机系统入G06N） G06F11/00 错误检测；错误校正；监控（在基于记录载体和传感器之间的相对运动而实现的信息存储中的错误检测、校正或监控所用的方法或装置入 G11B 20/18；监控，即，监控记录或重现的进程入G11B 27/36；静态存储中所用的方法或装置入G11C29/00）〔1，4，2006.01〕 G06F11/22 在准备运算或者在空闲时间期间内，通过测试作故障硬件的检测或定位〔3，2006.01〕	IPC分类号	G;0;6;F;1;1;/;2;2查看分类表>
申请人	深圳市紫光同创电子有限公司	申请人地址	广东省深圳市南山区粤海街道高新区社区高新南一道015号国微研发大楼401 变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	深圳市紫光同创电子有限公司	当前权利人	深圳市紫光同创电子有限公司
发明人	蒋义冠;许明亮
代理机构	深圳市智圈知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	周献

摘要

本申请实施例公开了一种芯片及其使用方法，涉及电子技术领域。其中，该芯片包括：存储单元、数据处理单元、测试控制单元以及检测设备，其中，所述数据处理单元与所述存储单元连接，用于从上位机中获取配置信息并将所述配置信息存储到所述存储单元；所述测试控制单元与所述数据处理单元连接，用于通过所述数据处理单元从所述存储单元获取所述配置信息，并基于所述配置信息配置待测试芯片；所述检测设备分别与所述测试控制单元和所述待测试芯片连接，用于对被配置后的待测试芯片进行检测，以得到测试数据。本申请能够有效提升了测试效率、降低了测试成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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