一种纳米亚微米测试装置

实用新型专利有效专利

申请号：
CN201721531881.5
IPC分类号：G01N15/02
申请日期：
2017-11-16
申请人：
济南微纳颗粒仪器股份有限公司

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著录项信息

专利名称	一种纳米亚微米测试装置
申请号	CN201721531881.5	申请日期	2017-11-16
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N15/02 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N15/00 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积（微生物的识别入C12Q）〔1，4，2006.01〕 G01N15/02 测试颗粒的粒度或粒经分布（G01N 15/04，G01N 15/10优先；通过测定渗透压力入G01N 7/10；）〔4〕	IPC分类号	G;0;1;N;1;5;/;0;2查看分类表>
申请人	济南微纳颗粒仪器股份有限公司	申请人地址	山东省济南市高新开发区新宇路750号大学科技园6号楼2单元变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	济南微纳颗粒仪器股份有限公司	当前权利人	济南微纳颗粒仪器股份有限公司
发明人	任中京;刘天胜;王斐斐
代理机构	山东众成清泰律师事务所	代理人	牟迅

摘要

本实用新型公开了一种纳米亚微米测试装置，包括样品窗1、激光器2、第一探测器3、第二探测器、支架6、上盖7、下盖8、进水口9、出水口10，所述样品窗1固定在上盖7和下盖8之间，上盖7和下盖8上分别有进水口9和出水口10，在样品窗1的后侧固定的第一探测器3为19联探测器，在样品窗1的前侧依次固定有激光器2、第二探测器和支架6。其中样品窗1、第一探测器3、第二探测器和激光器2的角度位置等均经过精确计。本实用新型测试精度高，操作简单，光学器件便于维护，避免了长时间运行造成测试误差。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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