基于有限观测数据的模拟残差确定方法

发明专利有效专利

申请号：
CN202211054062.1
IPC分类号：G06F30/20;G04F10/04;G06F17/16;G06K9/62;G06F111/10;G06F119/02
申请日期：
2022-08-31
申请人：
西安电子科技大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	基于有限观测数据的模拟残差确定方法
申请号	CN202211054062.1	申请日期	2022-08-31
法律状态	公开	申报国家	中国
公开/公告日	2022-11-11	公开/公告号	CN115329592A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G06F30/20	IPC分类号	G;0;6;F;3;0;/;2;0;;;G;0;4;F;1;0;/;0;4;;;G;0;6;F;1;7;/;1;6;;;G;0;6;K;9;/;6;2;;;G;0;6;F;1;1;1;/;1;0;;;G;0;6;F;1;1;9;/;0;2查看分类表>
申请人	西安电子科技大学	申请人地址	陕西省西安市长安区西沣路兴隆段266号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	西安电子科技大学	当前权利人	西安电子科技大学
发明人	孙海峰;沈利荣;姚定凯;石永强;李连升;李小平;刘彦明;王子昆;郝运
代理机构	西安知诚思迈知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	闵媛媛

摘要

本发明公开了一种基于有限观测数据的模拟残差确定方法，包括脉冲星观测数据经过处理得到计时残差，计时残差包括时刻值和计时残差值；将计时残差值由大到小进行排列，对应的时刻值也进行排列；统计不同区间范围内样本计时残差值的数量，绘制样本计时残差值在不同区间内出现的频率分布图；确定频率分布所属于的概率统计分布模型；求取概率统计分布模型的具体参数；确定模拟残差值的数量；根据概率统计分布模型仿真得到模拟残差值，为模拟残差值设置对应时刻值，将模拟残差值添加到样本观测数据中。本发明根据得到的实际残差数据建立基于实际数据的概率统计模型，进而依据该模型仿真得到模拟残差值，更接近原始样本值，提高了脉冲星时的精度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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该专利没有被任何外部专利所引用！

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