加载中...
首页专利查询专利详情

*来源于国家知识产权局数据,仅供参考,实际以国家知识产权局展示为准

一种贴片电容结构及其性能检测方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201711210287.0
  • IPC分类号:H01G4/30;H01G4/005;H01G4/12
  • 申请日期:
    2017-11-28
  • 申请人:
    国巨电子(中国)有限公司
著录项信息
专利名称一种贴片电容结构及其性能检测方法
申请号CN201711210287.0申请日期2017-11-28
法律状态实质审查申报国家中国
公开/公告日2018-06-15公开/公告号CN108172397A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H01G4/30IPC分类号H;0;1;G;4;/;3;0;;;H;0;1;G;4;/;0;0;5;;;H;0;1;G;4;/;1;2查看分类表>
申请人国巨电子(中国)有限公司申请人地址
江苏省苏州市新区竹园路10号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人国巨电子(中国)有限公司当前权利人国巨电子(中国)有限公司
发明人王樹生;郝萌萌
代理机构苏州市新苏专利事务所有限公司代理人朱亦倩
摘要
本发明公开了一种贴片电容结构及其性能检测方法,包括一电容坯体及包裹于电容坯体外的外电极端,所述电容坯体包括复数个陶瓷介质膜片叠加构成,上下相邻陶瓷介质膜片错位分布,其特征在于:所述每一陶瓷介质膜片上印刷有电极层,该电极层包括覆盖于陶瓷介质膜片上的内电极层,以及突出于所述陶瓷介质膜片两侧长度方向边缘上的翼型电极层,所述翼型电极层包裹于所述外电极端的金属片内;所述电容坯体制作步骤包括:⑴陶瓷介质膜片的制作;⑵丝网印刷和叠加;(3)切割;⑷电极检测,测量翼型电极层与电容坯体的边缘之间的距离,以此数据判断电容坯体的合格与否。本发明通过利用外露的翼型电极层,实现了直接检查,避免因破坏性检查而造成的损失。

我浏览过的专利

专利服务由北京酷爱智慧知识产权代理公司提供