位移测量方法

发明专利无效专利

申请号：
CN200910050289.7
IPC分类号：G01B21/04
申请日期：
2009-04-30
申请人：
上海第二工业大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	位移测量方法
申请号	CN200910050289.7	申请日期	2009-04-30
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2009-09-30	公开/公告号	CN101545767
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B21/04 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B21/00 不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件〔3〕 G01B21/02 用于计量长度、宽度或厚度（G01B 21/10优先）〔3〕 G01B21/04 通过测量各点的坐标〔3〕	IPC分类号	G;0;1;B;2;1;/;0;4查看分类表>
申请人	上海第二工业大学	申请人地址	上海市浦东新区金海路2360号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海第二工业大学	当前权利人	上海第二工业大学
发明人	江晓军;刘正国;汪志锋
代理机构	上海东创专利代理事务所（普通合伙）	代理人	宁芝华

摘要

位移测量系统及其测量方法，包括微处理器，及与所述微处理器相连接的显示装置和键盘，所述显示装置包括标识符号；位移测量方向选择框，用于对位移测量方向进行选择；位移测量误差补偿值设定框，用于对多个区间测量值的位移测量误差补偿值进行同时显示和设定；位移测量误差补偿特性曲线框，用于显示位移测量误差补偿值设定框中位移测量误差补偿值与相应区间测量值的坐标对应关系。本发明将被选位移测量方向上多个区间测量值与位移测量误差补偿值的坐标对应关系是以图形的形式进行显示，特别是在使用液晶显示时，液晶屏的视觉效果将使得这种关系更直观，从而使位移测量误差补偿值的设定变得更加可靠。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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