近场屏蔽效能测试装置、系统及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201910669976.0
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2019-07-24
申请人：
中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））

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著录项信息

专利名称	近场屏蔽效能测试装置、系统及方法
申请号	CN201910669976.0	申请日期	2019-07-24
法律状态	暂无	申报国家	中国
公开/公告日	2019-11-15	公开/公告号	CN110456189A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））	申请人地址	广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））	当前权利人	中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
发明人	王磊;方文啸;邵伟恒;恩云飞;黄云;雷登云;王铁羊
代理机构	广州华进联合专利商标代理有限公司	代理人	明霖

摘要

本发明涉及一种近场屏蔽效能测试装置、系统及方法，利用设置在基板表面上方的微带线和带状线所形成的场线耦合效应，进行电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能的同时测量。同时，由于带状线和微带线均可工作至高频，能够支持高频处电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能的同时测量。基于此，测试人员可将矢量网络分析仪的各端口分别连接至微带线的第一端、带状线的第一端和/或带状线的第二端，使矢量网络分析仪获取到各端口间的耦合传输系数，以分析微带线和带状线间的场线耦合效应，对比加载或未加载待测试样时的场线耦合效应，得到电场屏蔽效能和磁场屏蔽效能的测量结果，即待测试样的近场屏蔽效能测试结果。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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