一种射频电子产品自动测试设备

发明专利无效专利

申请号：
CN201510140363.X
IPC分类号：G01R31/00
申请日期：
2015-03-27
申请人：
江苏艾科半导体有限公司

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著录项信息

专利名称	一种射频电子产品自动测试设备
申请号	CN201510140363.X	申请日期	2015-03-27
法律状态	撤回	申报国家	暂无
公开/公告日	2016-11-23	公开/公告号	CN106154068A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01R31/00 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01R 测量电变量；测量磁变量（指示谐振电路的正确调谐入H03J 3/12） G01R31/00 电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置（在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L 21/66；线路传输系统的测试入H04B 3/46）	IPC分类号	G;0;1;R;3;1;/;0;0查看分类表>
申请人	江苏艾科半导体有限公司	申请人地址	江苏省镇江市新区四平山路六号智能装备产业园十号楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	江苏艾科半导体有限公司	当前权利人	江苏艾科半导体有限公司
发明人	王浩;王刚
代理机构	暂无	代理人	暂无

摘要

本发明涉及一种射频电子产品自动测试设备，包括中央处理器、上位机和待测电子产品，所述中央处理器连接有通讯接口管理、测试项目管理、仪器接口适配器、信息采集模块和电源模块，所述上位机与所述中央处理器的外部输入/输出接口通过串口连接。本发明极大的提高了射频电子产品在生产过程需要复杂的测试效率，采用构建化和通用化思想，使用灵活简单方便，另外，本发明设置有外部输入/输出接口，且通过串口连接上位机，通过上位机编程将测试命令发给中央处理器，进而实现自动化测试，降低了人工成本和测试成本。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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