一种阿尔法粒子非接触式测量装置及方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201610389754.X
IPC分类号：G01T1/16
申请日期：
2016-06-03
申请人：
中国人民解放军火箭军装备研究院第六研究所

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专利名称	一种阿尔法粒子非接触式测量装置及方法
申请号	CN201610389754.X	申请日期	2016-06-03
法律状态	授权	申报国家	暂无
公开/公告日	2016-11-09	公开/公告号	CN106093999A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01T1/16 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01T 核辐射或X射线辐射的测量（材料的辐射分析，质谱测定法入G01N 23/00用以测定辐射或粒子的存在、强度、密度或能量的管入H01J 47/00） G01T1/00 X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量（G01T 3/00，G01T 5/00优先）〔2〕 G01T1/16 辐射强度测量（G01T 1/29优先）〔2〕	IPC分类号	G;0;1;T;1;/;1;6查看分类表>
申请人	中国人民解放军火箭军装备研究院第六研究所	申请人地址	北京市海淀区清河大楼甲8号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国人民解放军火箭军装备研究院第六研究所	当前权利人	中国人民解放军火箭军装备研究院第六研究所
发明人	程金星;朱左明;徐金操;张斌;吴友朋;温伟伟;刘军辉;赵锋涛;周文平;胡玉新;吕亚超;徐荣政;李凤强;付永生
代理机构	北京智信四方知识产权代理有限公司	代理人	宋海龙;邹姗姗

摘要

本发明公开了一种阿尔法粒子非接触式测量装置及方法，所述阿尔法粒子非接触式测量装置包括多个紫外反射平面镜、至少两个紫外敏感光电倍增管、高电压模块、至少两个扇入扇出单元、至少两个甄别器、符合单元、多道分析器、控制器。本发明还提出一种使用所述阿尔法粒子非接触式测量装置对阿尔法粒子进行非接触式测量的方法。本发明利用阿尔法粒子在空气中产生紫外光的特性，可以实现非接触式测量阿尔法粒子的目的。

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