光学检测机

实用新型专利无效专利

申请号：
CN201420003708.8
IPC分类号：G02F1/13
申请日期：
2014-01-02
申请人：
由田新技股份有限公司

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著录项信息

专利名称	光学检测机
申请号	CN201420003708.8	申请日期	2014-01-02
法律状态	放弃专利权	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G02F1/13 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G02 光学 G02F 用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如转换、选通、调制或解调，上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的；用于上述操作的技术或工艺；变频；非线性光学；光学逻辑元件；光学模拟/数字转换器〔2，4〕 G02F1/00 控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如，转换、选通或调制；非线性光学〔2，4〕 G02F1/01 对强度、相位、偏振或颜色的控制（G02F 1/29、G02F 1/35优先）〔2，7〕 G02F1/13 基于液晶的，例如单位液晶显示单元〔2〕	IPC分类号	G;0;2;F;1;/;1;3查看分类表>
申请人	由田新技股份有限公司	申请人地址	中国台湾新北市变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	由田新技股份有限公司	当前权利人	由田新技股份有限公司
发明人	蔡鸿儒;姚哲文;徐铭锺
代理机构	北京泰吉知识产权代理有限公司	代理人	张雅军

摘要

一种光学检测机，适用检测一未黏贴偏光片的液晶面板半成品，并包含一平台单元、一探针模块、一巨观检测模块及一微观检测模块。平台单元承载未黏贴偏光片的液晶面板半成品。探针模块电连接未黏贴偏光片的液晶面板半成品。巨观检测模块检验未黏贴偏光片的液晶面板半成品，并包括一低倍率镜头、一第一偏光片、一光源及一第二偏光片。微观检测模块检验未黏贴偏光片的液晶面板半成品，并包括一高倍率镜头、一第一偏光片、一旋转单元、一光源及一第二偏光片。借此，使得液晶面板半成品未贴合偏光片前，先检验瑕疵，从而提升良率。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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