一种全自动平板平面度检测装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201410444708.6
IPC分类号：G01B11/30
申请日期：
2014-09-03
申请人：
上海大学

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种全自动平板平面度检测装置
申请号	CN201410444708.6	申请日期	2014-09-03
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2015-01-07	公开/公告号	CN104266614A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B11/30 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B11/00 以采用光学方法为特征的计量设备（G01B 9/00组中包括的各式仪器本身入G01B 9/00）〔2〕 G01B11/30 用于计量表面的粗糙度和不规则性	IPC分类号	G;0;1;B;1;1;/;3;0查看分类表>
申请人	上海大学	申请人地址	上海市宝山区上大路99号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海大学	当前权利人	上海大学
发明人	谢燮;刘亮;封淼;陈浩;施华
代理机构	上海上大专利事务所（普通合伙）	代理人	陆聪明

摘要

本发明提供一种用于全自动平板平面度检测装置，该测速装置包括一个测量部件和驱动部件，该测量部件包括光轴和反射镜安装座；该驱动部件包括步进电机、步进电机控制器、轴承座、轴承轴、同步带轮等。通过测量部件与驱动部件的分离，可以使测量光轴始终贴合在被测量面上，从而极大地提高了测量的可靠性和数据的独立性。本发明通过与光电自准直仪配合测量来读取所测数据，具有检测方便、快速、精确度高、通用性强等优点。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

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