一种集成电路性能测量及电路实验装置

实用新型专利无效专利

申请号：
CN02280449.8
IPC分类号：--
申请日期：
2002-10-11
申请人：
中国科学院海洋研究所

基础信息

权利要求

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法律信息

引证文献

著录项信息

专利名称	一种集成电路性能测量及电路实验装置
申请号	CN02280449.8	申请日期	2002-10-11
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	中国科学院海洋研究所	申请人地址	山东省青岛市南海路7号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院海洋研究所	当前权利人	中国科学院海洋研究所
发明人	龚德俊;朱素兰;李思忍;徐永平;于新生;秦枫
代理机构	沈阳科苑专利商标代理有限公司	代理人	许宗富;周秀梅

摘要

本实用新型涉及集成电路性能测量、试验技术，尤其是一种集成电路性能测量及电路实验装置。包括：基板，其上设有多个固定孔，上表面均设至少2个固定导槽；至少1块用于接插集成块和电子元件的母板，其上设有印刷线路用即导体；至少2个用于固定母板的固定块，插装在所述固定导槽里、并同时将母板安装在基板上、于固定导槽之间；至少1个固定条，通过固定孔安装在基板上，用于固定整体结构。在基板上灵活方便地组合母板，使用本实用新型能安全、方便、快速地用集成块和电子元件搭建测量和实验电路，以对各种型号和形状的(尤其贴片式)集成电路进行各种性能的测量和试验。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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