近场扫描光学显微镜耦合透过效率优化系统

发明专利无效专利

申请号：
CN201010558891.4
IPC分类号：G01Q60/18
申请日期：
2010-11-25
申请人：
中山大学

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著录项信息

专利名称	近场扫描光学显微镜耦合透过效率优化系统
申请号	CN201010558891.4	申请日期	2010-11-25
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日	2011-05-25	公开/公告号	CN102072972A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01Q60/18 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01Q 扫描探针技术或设备；扫描探针技术的应用，例如，扫描探针显微术〔SPM〕〔2010.01〕 G01Q60/00 特殊类型的SPM 〔扫描探针显微术〕或其设备；其基本组成〔2010.01〕 G01Q60/18 SNOM 〔扫描近场光学显微术〕或其设备，例如，SNOM探针〔2010.01〕	IPC分类号	G;0;1;Q;6;0;/;1;8查看分类表>
申请人	中山大学	申请人地址	广东省广州市新港西路135号中山大学理工学院变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中山大学	当前权利人	中山大学
发明人	周建英;谢向生;陈泳竹
代理机构	广州粤高专利商标代理有限公司	代理人	禹小明

摘要

本发明涉及扫描探针显微技术领域，所要解决的技术问题是提供一种简单的提高近场扫描光学显微镜耦合透过效率的优化系统及其优化方法。一种近场扫描光学显微镜耦合透过效率优化系统，包括计算机、探测器、收集镜、探针、聚焦镜、空间光调制仪器和驱动器，所述计算机、探测器、空间光调制仪器和驱动器组成闭合回路。本发明通过引入空间光调制仪器，对入射光场的光场分布进行调制，使得该被调制的光场同探针耦合后，具有最高的耦合透过效率，同时不会降低显微镜系统的其他性能。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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