测量单晶硅棒端面垂直度的高度尺

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专利名称	测量单晶硅棒端面垂直度的高度尺
申请号	CN201020243388.5	申请日期	2010-07-01
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01B5/245 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01B 长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量 G01B5/00 以采用机械方法为特征的计量设备（包括在大组G01B 3/00中的各式量具本身入G01B 3/00）〔2〕 G01B5/24 用于计量角度或锥度；用于轴线准直检测 G01B5/245 用于检测垂直度〔6〕	IPC分类号	G;0;1;B;5;/;2;4;5查看分类表>
申请人	邢台晶龙电子材料有限公司	申请人地址	河北省邢台市开发区信都南路168号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	邢台晶龙电子材料有限公司	当前权利人	邢台晶龙电子材料有限公司
发明人	刘彬国;何京辉;牛敬磊
代理机构	石家庄国为知识产权事务所	代理人	米文智

摘要

本实用新型公开了一种测量单晶硅棒端面垂直度的高度尺，包括：底座、垂直固定于底座上的刻度尺、安装在刻度尺上的游标以及位于游标侧部的测量爪，所述底座下方设有与切断机的机床滑道相适配的凸条。该测量单晶硅棒端面垂直度的高度尺结构简单、操作方便、可准确控制单晶硅棒端面的垂直度。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有被任何外部专利所引用！

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