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一种超高频局部放电测试仪考核校验和量值标定的方法

发明专利有效专利
  • 申请号:
    CN201310217351.3
  • IPC分类号:G01R35/00
  • 申请日期:
    2013-06-03
  • 申请人:
    杭州西湖电子研究所
著录项信息
专利名称一种超高频局部放电测试仪考核校验和量值标定的方法
申请号CN201310217351.3申请日期2013-06-03
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日2013-09-25公开/公告号CN103323807A
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01R35/00IPC分类号G;0;1;R;3;5;/;0;0查看分类表>
申请人杭州西湖电子研究所申请人地址
浙江省杭州市拱墅区祥园路35号(北部软件园) 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人杭州西湖电子研究所当前权利人杭州西湖电子研究所
发明人胡维兴;顾乐;陈俊;张显聪
代理机构杭州求是专利事务所有限公司代理人杜军
摘要
本发明公开了一种超高频局部放电测试仪考核校验和量值标定方法。目前没有统一标准对超高频局部放电测试仪进行考核校验,影响了检测结果的有效性和可靠性。本发明利用高频信号发生器输出正弦波信号,经脉冲调制装置转换成射频脉冲信号,再通过GTEM小室中的芯板发射,最终由被测传感器接收这一过程,通过灵敏度、线性度和带宽三大指标来考核仪器性能,且能对被测仪器所测得的量值进行标定。本发明能够构建频率、幅值均可调的均匀脉冲电磁场,并有效屏蔽外界电磁信号的干扰,提高了考核校验的准确度,使用方便。

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