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光学准直系统和激光测距仪

实用新型专利有效专利
  • 申请号:
    CN202021898758.9
  • IPC分类号:G01S7/481;G01S17/08;G01C3/02;G01C3/00
  • 申请日期:
    2020-09-02
  • 申请人:
    深圳市迈测科技股份有限公司
著录项信息
专利名称光学准直系统和激光测距仪
申请号CN202021898758.9申请日期2020-09-02
法律状态授权申报国家中国
公开/公告日公开/公告号
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01S7/481IPC分类号G;0;1;S;7;/;4;8;1;;;G;0;1;S;1;7;/;0;8;;;G;0;1;C;3;/;0;2;;;G;0;1;C;3;/;0;0查看分类表>
申请人深圳市迈测科技股份有限公司申请人地址
广东省深圳市南山区桃源街道福光社区塘朗车辆段旁塘朗城广场(西区)A座3601 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人深圳市迈测科技股份有限公司当前权利人深圳市迈测科技股份有限公司
发明人张欢欢;侴智;郑以磊;黄杰峰
代理机构广州华进联合专利商标代理有限公司代理人熊文杰
摘要
本实用新型涉及一种光学准直系统和激光测距仪。所述光学准直系统通过在镜筒的腔室设置有光阑,且所述光阑的透光孔为锥形孔,所述锥形孔的第一开口与所述激光发射器的出光口相对,所述锥形孔与所述镜筒的腔室贯通。所述锥形孔通过改变所述激光光束的传播路径,将从第一开口进入的所述激光光束完全通过所述第二开口,从而避免所述激光光束中部分光线照射至所述镜筒的内壁而产生杂散光。同时,所述光阑的由任意不透明黑色材料制成均可,成本低,从而在保证消除杂散光的同时,大大降低了消除杂散光的成本,解决了现有技术中存在的目前的杂散光的消除成本较高的技术问题,达到了降低消除杂散光成本的技术效果。

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