可自测试的带微处理器的智能卡芯片

实用新型专利无效专利

申请号：
CN03230078.6
IPC分类号：--
申请日期：
2003-04-04
申请人：
上海华园微电子技术有限公司

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法律信息

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著录项信息

专利名称	可自测试的带微处理器的智能卡芯片
申请号	CN03230078.6	申请日期	2003-04-04
法律状态	权利终止	申报国家	中国
公开/公告日		公开/公告号
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	暂无	IPC分类号	暂无查看分类表>
申请人	上海华园微电子技术有限公司	申请人地址	上海市宜山路900号A区六楼变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	上海华园微电子技术有限公司	当前权利人	上海华园微电子技术有限公司
发明人	印义中;印义言;郭俊;黄激;卢君明
代理机构	中原信达知识产权代理有限责任公司	代理人	罗大忱

摘要

一种可自测试的带微处理器的智能卡芯片，其包括主电路，及与该主电路双向连接的可对主电路进行全面测试的自测试电路，所述的自测试电路包括：一个测试模式输入端；一个判别正常工作数据输入或测试数据输入的多路开关，一个由输入测试命令和测试模式控制的测试图形发生器，一个对测试结果进行分析并输出测试结果是否正确及故障类型的特征分析器，测试图形发生器产生测试数据可主电路的各模块分别测试或各模块综合功能进行测试。这样，用户基本上不必连接外部测试设备，就可以进行该智能卡芯片的测试和验证，从而降低测试成本，减少测试时间。

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
该专利没有引用任何外部专利数据！

序号	公开(公告)号	公开(公告)日	申请日	专利名称	申请人
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