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细胞外电位测定装置及其制造方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200480000451.X
  • IPC分类号:--
  • 申请日期:
    2004-03-08
  • 申请人:
    松下电器产业株式会社
著录项信息
专利名称细胞外电位测定装置及其制造方法
申请号CN200480000451.X申请日期2004-03-08
法律状态权利终止申报国家暂无
公开/公告日2005-11-16公开/公告号CN1697969
优先权暂无优先权号暂无
主分类号暂无IPC分类号暂无查看分类表>
申请人松下电器产业株式会社申请人地址
日本大阪 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人松下电器产业株式会社当前权利人松下电器产业株式会社
发明人中谷将也;冈弘章;江本文昭
代理机构北京纪凯知识产权代理有限公司代理人龙淳
摘要
细胞外电位测定装置具有拥有第一表面和第一表面相反一侧的第二表面的膜片,和在膜片的第二表面上设置的电极。在膜片上形成具有在第一表面上开口的开口部的凹部,和从凹部贯通至膜片的第二表面的通孔。通孔从比凹部的最深处更靠近凹部的开口部的位置贯通至膜片的第二表面。膜片的第二表面上,电极被设置在通孔的开口部周围。在该装置中,由于即使被验体细胞没有到达凹部内最深处,被验体细胞的细胞膜也可以与通孔确实地无间隙贴紧,所以,可遮断通孔内的培养液和膜片上面一侧的培养液,并且可以通过检测电极,有效地检测细胞活动时产生的电气化学变化。

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