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用于测量至少一个圆锥螺纹的装置和方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200680045767.X
  • IPC分类号:H05B7/14
  • 申请日期:
    2006-10-05
  • 申请人:
    DECOM测试实验室有限两合公司
著录项信息
专利名称用于测量至少一个圆锥螺纹的装置和方法
申请号CN200680045767.X申请日期2006-10-05
法律状态权利终止申报国家暂无
公开/公告日2009-01-28公开/公告号CN101356857
优先权暂无优先权号暂无
主分类号H05B7/14IPC分类号H;0;5;B;7;/;1;4查看分类表>
申请人DECOM测试实验室有限两合公司申请人地址
德国卡珀尔恩 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人DECOM测试实验室有限两合公司当前权利人DECOM测试实验室有限两合公司
发明人彼得·路德维格
代理机构北京安信方达知识产权代理有限公司代理人王漪;郑霞
摘要
本发明涉及一种用于测量至少一个圆锥螺纹(1)、特别是冶金设备的电极螺纹盒(2)或者螺纹内接头(3)的装置。为简化用于确定圆锥螺纹精度的测量过程,依据本发明,该装置具有第一螺纹量规件(4)和第二螺纹量规件(5),螺纹量规件可旋在所要测量的螺纹(1)上或者旋入所要测量的螺纹内并具有彼此不同的螺纹直径(Dg、Dk),其中设置有工具(6),利用该工具可测定两个螺纹量规件(4、5)之间的相应旋转位置和相应旋转位置与设定旋转位置的偏差。此外,本发明涉及一种用于测量圆锥螺纹(1)、特别是冶金设备的电极螺纹盒(1)或者电极螺纹内接头(3)的方法。

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