一种无标记微纳米粒子的荧光探测方法及装置

发明专利有效专利

申请号：
CN201710467212.4
IPC分类号：G01N21/64
申请日期：
2017-06-20
申请人：
大连理工大学

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专利名称	一种无标记微纳米粒子的荧光探测方法及装置
申请号	CN201710467212.4	申请日期	2017-06-20
法律状态	授权	申报国家	中国
公开/公告日	2017-10-24	公开/公告号	CN107290314A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/64 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/62 所测试的材料在其中被激发，因之引起材料发光或入射光的波长发生变化的系统〔3〕 G01N21/63 光学激发的〔3〕 G01N21/64 荧光；磷光〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;6;4查看分类表>
申请人	大连理工大学	申请人地址	辽宁省大连市甘井子区凌工路2号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	大连理工大学	当前权利人	大连理工大学
发明人	洪昕
代理机构	大连理工大学专利中心	代理人	梅洪玉

摘要

本发明公开了一种无标记微纳米粒子的荧光探测方法及装置,属于近场光学技术领域。其特征在于利用全内反射结构激发贵金属的表面等离子共振，位于贵金属膜表面的微纳米粒子与贵金属膜的表面等离子体共振作用后发生受抑全内反射，通过其透射光激发粒子所在荧光溶液发光。装置包括激光器、偏振调整器、光波矢‑金属膜表面等离子耦合器、一侧表面镀有贵金属膜的玻璃载玻片、缺底样品槽、荧光收集透镜、光学中性滤波片、光电探测器、处理电路、电脑、旋转台。本发明实现了对微纳米粒子的无需标记直接探测，粒子的浓度直接通过荧光的强度进行表征。

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