基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置、测量系统和测量方法

发明专利有效专利

申请号：
CN201811251434.3
IPC分类号：G01N21/01
申请日期：
2018-10-25
申请人：
中国科学院上海微系统与信息技术研究所;中国科学院大学

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专利名称	基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置、测量系统和测量方法
申请号	CN201811251434.3	申请日期	2018-10-25
法律状态	实质审查	申报国家	中国
公开/公告日	2019-02-19	公开/公告号	CN109358001A
优先权	暂无	优先权号	暂无
主分类号	G01N21/01 ? IPC结构图谱： G 物理 G0 仪器 G01 测量；测试 G01N （除免疫测定法以外包括酶或微生物的测量或试验入C12M，C12Q） G01N21/00 利用光学手段，即利用红外光、可见光；或紫外光来测试或分析材料（G01N 3/00至G01N 19/00优先） G01N21/01 便于进行光学测试的装置或仪器〔3〕	IPC分类号	G;0;1;N;2;1;/;0;1查看分类表>
申请人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所;中国科学院大学	申请人地址	上海市长宁区长宁路865号变更专利地址、主体等相关变化，请及时变更，防止失效
权利人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所,中国科学院大学	当前权利人	中国科学院上海微系统与信息技术研究所,中国科学院大学
发明人	付亚州;王长;谭智勇;曹俊诚
代理机构	上海智信专利代理有限公司	代理人	邓琪

摘要

本发明公开了一种基于太赫兹光谱仪的可弯曲样品的固定装置，该固定装置包括第一夹具组件和第二夹具组件，其中第一夹具组件至少包括第一固定夹，第二夹具组件至少包括第二固定夹，第一固定夹和第二固定夹被设置为分别夹持待测样品的第一端和第二端，第一固定夹和第二固定夹在第一水平方向上移动，以弯曲所述待测样品。此外，本发明还公开了一种包括太赫兹时域光谱仪和上述固定装置的测量系统以及一种测量方法，测量方法采用测量系统进行测量，包括步骤采用固定装置将待测样品夹持固定，并根据需要调整待测样品弯曲度；采用太赫兹时域光谱仪的发射端发出太赫兹信号，采用太赫兹时域光谱仪的接收端接收穿透待测样品的太赫兹信号，并进行分析。

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