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吸阻仪自动校准系统及其校准方法

发明专利无效专利
  • 申请号:
    CN200710157563.1
  • IPC分类号:G01N15/08;G01N7/10;G01N33/00
  • 申请日期:
    2007-10-19
  • 申请人:
    中国科学院沈阳科学仪器研制中心有限公司
著录项信息
专利名称吸阻仪自动校准系统及其校准方法
申请号CN200710157563.1申请日期2007-10-19
法律状态权利终止申报国家中国
公开/公告日2009-04-22公开/公告号CN101413869
优先权暂无优先权号暂无
主分类号G01N15/08IPC分类号G;0;1;N;1;5;/;0;8;;;G;0;1;N;7;/;1;0;;;G;0;1;N;3;3;/;0;0查看分类表>
申请人中国科学院沈阳科学仪器研制中心有限公司申请人地址
辽宁省沈阳市浑南新区新源街1号 变更 专利地址、主体等相关变化,请及时变更,防止失效
权利人中国科学院沈阳科学仪器研制中心有限公司当前权利人中国科学院沈阳科学仪器研制中心有限公司
发明人宋世亮;杨玉杰;孟宪忠;孙影;韩成民;郭东民
代理机构沈阳科苑专利商标代理有限公司代理人许宗富
摘要
本发明涉及一种吸阻仪自动校准系统,具有气路装置及电控装置,气路装置包括校准气路和测量气路,校准气路具有两个吸阻标准棒测量头,测量气路具有样品测量头,分别经电动阀及手动阀后通过同一流量恒定元件及缓冲室与负压真空泵相连,流量恒定元件及缓冲室中设有气体压差传感器;所述电控装置具有吸阻主控板,其输出端经吸阻接口板分别与各气路中的电动阀相连,吸阻主控板的串行通讯接口通过AD采样板接有吸阻传感器;本发明方法为:启动负压真空泵;调节测量气路和校准气路的基准气压;第1吸阻标准棒校准操作;第2吸阻标准棒校准操作;计算校准曲线参数,得到标准曲线斜率及增益。本发明避免了人为干扰,实现自动控制的实时校准,适合进行批量检测。

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